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... 概要
VIP Extended は、シリコン、SiC、GaN のパワーデバイス向け並列試験に対応した構成可能な自動試験装置（ATE）システムです。Wafer sort、strip test、pick & place、gravity handler 環境向けに設計され、最大48並列のテストサイトをサポートしてスループットを向上させ、試験あたりのコストを低減します。
主な特徴
- ドライバIC、IGBT、パワーMOSFET、Power
... 製品概要
PST6747Aiシリーズは、パワー半導体デバイスの静的パラメータを精密に測定・解析するための半導体試験システムです。3 kV（10 kVオプション）/2200 Aまで対応し、高速パルス動作や fA レベルの電流検出をサポートし、IGBT、GaN、SiC 等の最新デバイスの特性評価に適しています。
モデル
- PST6747Ai：高精度、研究開発向け。試験レポートは詳細な特性曲線とパラメータを提供します。
- PST6747Ai-F：高精度、工場出荷前の製品試験向け。レポートはユーザードキュメントに利用可能です。
- PST6747Ai-L：標準精度、材料受入れ／供給元比較試験向け。メーカーの報告と比較しやすい形式のレポートを提供します。
モジュラー設計とハードウェア
本シリーズはモジュラー設計を採用し、P6701B（3 ...
... MX300Cシリーズは、パワー半導体用自動熱特性試験装置です。サンプリングユニット、温度制御ユニット、電源ユニット、システム制御ユニットから構成されています。主にIGBT(Si/SiC/GaN材料)、MOSFET、DIODE等のパワー半導体のパワーサイクル試験や耐熱性試験に適しており、パワー半導体の寿命中の性能を評価することができます。 機能 パワーサイクル試験 熱抵抗試験/過渡熱抵抗試験(Rth/Zth) Kカーブ試験 接合部対ケース熱抵抗 (RJC) ゲートリーク電流試験 (IGES) 製品の利点 定温プレートで高精度 リアルタイム故障診断機能 遠隔監視機能 多重保護：過熱、煙警報、冷却液漏れ検出など。 互換性IGBT/DIODE/MOSFET/BJT/SCR ...
Hefei Kewell Power System Co., Ltd.
... 製品紹介
MX700S静的試験システムは、高電圧電源ユニット、治具ユニット、測定ユニット、リレー切替ユニット、パルス電流源および関連試験機器で構成されています。自社開発のシステム試験ソフトウェアを採用し、パワーデバイスの静的特性パラメータを測定するための安定で精度の高いプラットフォームを提供します。IGBT、SiC、ダイオードなどの静的試験に適しています。
仕様表
（仕様表はページ上で画像として表示されます）
製品の特徴
- 最大24チャネルの切替ユニット：ダブルパルステストおよびシャントサンプリング測定に対応
- ライン用の高速テストに対応
- SiC
Hefei Kewell Power System Co., Ltd.
... 製品紹介
MX700KGDシリーズは、主にSiC MOSおよびIGBTチップの裸ダイに対する自動化されたチップの動的/静的選別試験システムです。試験本体、オートメーション装置、プローブカードで構成され、ダイの公称電流・公称電圧を測定して電気的性能と完全性を評価します。
動作
試験ステーションの昇降機構がダイキャリアを上昇させ、プローブカードのプローブがダイに接触するまで位置合わせします。プローブカードは圧力室が密封されており、ダイ高さの自動キャリブレーションにより安定した接触を確保します。
製品仕様表
動的試験の技術パラメータ
静的試験の技術パラメータ
製品特徴
- 顧客要件に応じて機能を構成可能で、外観検査や高温・常温での動的/静的試験に対応する包括的な試験カバレッジ;
- 裸ダイの公称仕様に対する高電圧・大電流試験が可能;
- 低寄生：システム寄生インダクタンスは20
Hefei Kewell Power System Co., Ltd.
... パワーディスクリートテストシステム-STS8203 システムの特徴 - MOSFET、ショットキー、IGBTなどのパワー・ディスクリート・デバイスのテストに特化 - 2000V/200A DCテスト機能 - UIS、DVDS、ZMU（Ciss/Coss/Crss/Rg）テストオプション - 異なるテストステーションとのインターフェースにより、DCとACのテストを同時にサポートするマルチファンクションテストモード - メニュー・ドリブン・プログラミング。 - CROSS本体のアナログICテスターへの柔軟な拡張性 ...
... MOSFET BJT IGBTおよびSiC GaN半導体用PMSTパワーデバイスアナライザ静的テストシステム パワーデバイス静的パラメータテストシステム（PMST）は、様々な測定・解析機能を統合しており、パワーデバイス（MOSFET、BJT、IGBTなど）の静的パラメータを正確に測定することができます。このシステムは、異なるパッケージタイプのパワーデバイスの静的パラメータを測定することができ、高電圧、高電流特性、uΩレベルの正確な測定、pAレベルの電流測定能力という特性を持っています。高電圧モードにおけるパワーデバイスの接合キャパシタンス（入力キャパシタンス、出力キャパシタンス、逆方向転送キャパシタンスなど）の測定をサポートしています。 -最大電圧：3500V、10kVまで拡張可能。 -最大電流：6000A（複数モジュール並列）。 -nAの漏れ電流、μΩの導電抵抗。 -精密測定の正確さ ...