IGBT用テスト システム
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... パワーデバイス静特性試験システム(PMST)は、様々な測定・解析機能を統合し、パワーデバイス(MOSFET、BJT、IGBTなど)の静特性パラメータを正確に測定でき、電圧は3.5kVまで、電流は6000Aまで測定できます。このシステムは異なるパッケージタイプのパワーデバイスの静特性を測定でき、高い電圧と高い電流特性、uΩレベルの精密測定、pAレベルの電流測定能力を備えています。 製品の特徴 - 最大電圧:3500V - (最大10kV) - 最大6000Aまでの大電流(複数モジュール並列使用時) - ...
... MX300Cシリーズは、パワー半導体用自動熱特性試験装置です。サンプリングユニット、温度制御ユニット、電源ユニット、システム制御ユニットから構成されています。主にIGBT(Si/SiC/GaN材料)、MOSFET、DIODE等のパワー半導体のパワーサイクル試験や耐熱性試験に適しており、パワー半導体の寿命中の性能を評価することができます。 機能 パワーサイクル試験 熱抵抗試験/過渡熱抵抗試験(Rth/Zth) Kカーブ試験 接合部対ケース熱抵抗 (RJC) ゲートリーク電流試験 ...
... パワーディスクリートテストシステム-STS8203 システムの特徴 - MOSFET、ショットキー、IGBTなどのパワー・ディスクリート・デバイスのテストに特化 - 2000V/200A DCテスト機能 - UIS、DVDS、ZMU(Ciss/Coss/Crss/Rg)テストオプション - 異なるテストステーションとのインターフェースにより、DCとACのテストを同時にサポートするマルチファンクションテストモード - メニュー・ドリブン・プログラミング。 - CROSS本体のアナログICテスターへの柔軟な拡張性 ...
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