パフォーマンステスト システム MX700S

MOSFETIGBT用オンサイト

製品紹介
MX700S静的試験システムは、高電圧電源ユニット、治具ユニット、測定ユニット、リレー切替ユニット、パルス電流源および関連試験機器で構成されています。自社開発のシステム試験ソフトウェアを採用し、パワーデバイスの静的特性パラメータを測定するための安定で精度の高いプラットフォームを提供します。IGBT、SiC、ダイオードなどの静的試験に適しています。

仕様表
（仕様表はページ上で画像として表示されます）

製品の特徴

• 最大24チャネルの切替ユニット：ダブルパルステストおよびシャントサンプリング測定に対応
• ライン用の高速テストに対応
• SiC MOSFETの試験基準 JEP183A に準拠
• バーコードリーダーによるPN入力と試験報告書の自動生成に対応
• 操作しやすいHMIで簡便な運用が可能

特性 / 仕様（技術仕様）

• システム構成：高電圧電源ユニット、治具ユニット、測定ユニット、リレー切替ユニット、パルス電流源および関連試験機器
• ソフトウェア：自社開発のシステム試験ソフトウェア
• 適用デバイス：IGBT、SiC、ダイオードなどのパワーデバイス静的試験
• チャネル対応：最大24チャネルの切替ユニット
• 試験能力：ダブルパルステスト、シャントサンプリング、ライン用高速テスト
• 規格対応：SiC MOSFET 試験基準 JEP183A
• 機能：バーコードリーダーでのPN入力、試験報告書の自動生成；操作性の良いHMI