パフォーマンステスト システム

... OEMとバッテリー・サプライヤーは、進化する自動車市場のために新しいパックを開発し続けなければならない。バッテリー電気自動車（BEV）にとって、走行距離は重要な要素であり、バッテリーセルとパックの容量は極めて重要である。容量に加えて、電流と電圧もバッテリー開発の中心です。そのため、バッテリーパックを検証するための試験システムは最先端のものである必要があります。 当社のAVLソリューションは、さまざまな環境条件下ですべての重要なパラメーターを測定します。さらに、バッテリー試験に必要な追加ツールに接続する多機能インターフェースを備えています。AVLは、バッテリー開発におけるあらゆるニーズに対応するハードウェアとソフトウェアのクローズドツールチェーンを持っています。お客様のための開発サービスと試験装置の独自開発の組み合わせにより、AVLはバッテリー試験の領域で直面する課題を総合的に捉えることができます。 最大限の信頼性のための安全性と統合 AVLバッテリーモジュール/パックTS™は、モジュールおよびパックレベルでの信頼性が高く安全なバッテリー試験のために設計された、完全に統合された試験システムです。高度な技術、堅牢な安全機能、シームレスなシステム統合を組み合わせ、最新のバッテリー開発の要求を満たします。 主な特長 AVL ...

... 車両試験システムの開発において豊富な経験を持つ当社は、スクーター、オートバイ、ATV、自動車、小型・大型トラック、バス、トラクター、オフロード車など、幅広い車両に対応する包括的な試験ソリューションを提供しています。当社の車両試験システムは、統合されたコンポーネントを評価するように設計されており、制御された実験室環境で相互依存性の試験やコンセプトの実証を行うことができます。 これらの高度なソリューションは、性能試験からNVH（騒音、振動、ハーシュネス）、EMC（電磁両立性）まで、さまざまな用途に適しています。当社の専門知識により、各試験システムは、さまざまな車両タイプや特定の顧客要件に固有のニーズを満たすようにカスタマイズされています。 車両性能の検証方法 自動車産業が内燃エンジン（ICE）車から電気自動車やハイブリッドパワートレインに移行していく中で、AVLの車両試験システムは、2WD、4WD、ハイブリッドセットアップを含むすべての構成をサポートするように設計されています。当社のソリューションは、あらゆる車両技術に対応しています。 電気駆動と高電圧コンポーネントが主流となる中、安全性の確保と動的性能の要件を満たすことは非常に重要です。AVLの試験システムは、気候試験、NVH試験、EMC試験など、さまざまな試験環境において、機械、電気、高電圧サブシステムを評価し、最適化するように設計されており、急速に進化する自動車業界において、お客様が常に優位に立てるよう支援します。 ...

... 現代の推進システムは複雑さを増しており、それに伴い試験や計測に対する要求も高まっています。内燃エンジン（ICE）、ハイブリッドエンジン、Eドライブ、トランスミッションといった重要なコンポーネントの同時開発により、開発の初期段階でトランスミッション試験を実施することが不可欠になっています。 当社のトランスミッション試験システムは、開発プロセス全体を通してトランスミッションの検証をサポートするように設計されています。数十年にわたる専門知識を活用し、乗用車、商用車、オフロードアプリケーションなど、さまざまな車両タイプに対応した堅牢な試験ソリューションを提供しており、耐久性、機能性、性能、NVHなど、あらゆる重要な分野をカバーしています。 Eモビリティの課題 OEMやサプライヤーは現在、革新的な推進システムのコンポーネントを開発しています。これまでのICEへの注力とは異なり、完全電動化されたドライブトレインへのシフトは新たな課題をもたらす。 当社のドライブユニットは、より高速で柔軟性の高い小型の高電力密度ソリューションを必要とするe-driveをサポートすることで、こうした変化に対応しなければなりません。また、Eモーターの設計では、ICEに比べてより幅広いバリエーションが導入されるため、当社の試験システムにはより多様性が求められます。 ...

... SANWOOD メモリバーンイン試験システム メモリIC向け統合バーンインおよび機能試験 SANWOODメモリバーンイン試験システムは、制御された熱環境、電気的ストレス、およびメモリ機能試験を、構成可能なプラットフォームに統合しています。バーンインボード（BIB）を中核として設計されており、 デバイスの並列スクリーニングおよび信頼性評価をサポートし、お客様のメモリ製品やテストプロセスに合わせてシステム構成を調整可能です。 チャンバーの寸法、デバイス収容数、基板配置、および熱負荷能力は、パッケージサイズ、BIB設計、動作電力、生産要件に応じてカスタマイズ可能です。 バーンインとメモリテストの統合 1つのテストワークフロー内で、温度曝露、電気的励起、および機能テストのシーケンスを連携させます。DRAMおよびLPDDRアプリケーションの場合、構成にバーンインおよびコアテストを組み込むことで、ストレススクリーニングとデバイス評価間の移行を効率化できます。 電気的テスト条件、デバイス接続、およびテストプログラムは、選択されたメモリファミリーとテスト目的に合わせて調整されます。 デバイス収容数を設定可能な並列テスト BIBベースの配置により、複数の基板にまたがって複数のデバイスを収容できます。収容数は、デバイスパッケージ、ソケットレイアウト、BIBの寸法、利用可能な基板位置、および動作時の熱負荷によって決定されます。 SANWOODは、必要なサンプル数とスループートに合わせてチャンバーサイズとロード配置を構成でき、お客様のテストニーズの拡大に合わせて装置容量を計画するお手伝いをします。 通電メモリ負荷の熱制御 実装済みのメモリボードが電気的ストレス下で動作する場合、温度分布は重要な考慮事項となります。 ...

... 製品
ITEM 776-030-00 — 電力特性試験器

概要
SiC や GaN といったワイドバンドギャップ（WBG）パワーデバイスは、より高い電力、より高速なスイッチング、および JESD 24-9、JESD 24-10、AQG-324 などの厳しい規格に対応するため、専用の測定手法を必要とします。Quasar200 と Pulsar600 は、Si、GaN、SiC デバイスの DC/AC 特性評価向けに構成されたプラットフォームです。Quasar200 ...

... 製品概要
Hatina WLBI は、ウエハ上のパワーデバイス向けに設計されたウエハーレベルの Burn-In（WLBI）および HTOL ソリューションです。コンパクトな試験チャンバー（概寸 560×560×550 mm、仕様表 D×W×H 560×560×560 mm）は標準的なウエハプローバーに接続してフルウエハのバーンインを高並列で実行します。各 DUT にヒーターを内蔵し、オーブンを用いない局所的で低消費電力の温度制御を実現することで、エネルギー消費と占有面積を低減し、オートメーション統合を簡素化します。

主な利点

• 対応技術：Si、SiC、GaN

... 製品説明
HD35 携帯型二重チャネル光モジュール試験システムは、FOG（光ファイバージャイロ）光学モジュールおよびファイバコイルアセンブリ向けにYOECが開発した第3世代のポータブル試験プラットフォームです。閉ループFOGアーキテクチャと1310 nm／1550 nmの二波長を採用し、バイアス測定、角速度出力、および総合的な性能評価を提供します。試験対象のファイバコイルはコネクタ接続または融着接続で直接接続でき、複雑な較正を行わずに即時に試験を実施できます。システムはWindows ...