パフォーマンステスト システム HD35

研究室用携帯型コンパクト

製品説明
HD35 携帯型二重チャネル光モジュール試験システムは、FOG（光ファイバージャイロ）光学モジュールおよびファイバコイルアセンブリ向けにYOECが開発した第3世代のポータブル試験プラットフォームです。閉ループFOGアーキテクチャと1310 nm／1550 nmの二波長を採用し、バイアス測定、角速度出力、および総合的な性能評価を提供します。試験対象のファイバコイルはコネクタ接続または融着接続で直接接続でき、複雑な較正を行わずに即時に試験を実施できます。システムはWindows 11を搭載したコンパクトな産業用PCと専用試験ソフト、複数の光学/電気インターフェースを統合し、実験室、量産ラインおよびフィールドでの使用に適した軽量ハンドヘルド筐体を備えています。

主な利点

• 高精度バイアス測定：1550 nmチャネルで最大0.0005°/hの精度。
• 二波長試験（1310 nm & 1550 nm）により幅広いコイル互換性を実現。
• 携帯可能なハンドヘルド設計で現場での取り扱いが容易。
• プラグアンドプレイ動作：複雑な較正を必要とせず迅速に試験開始。
• ファイバコイル長は波長により200 m〜5000 mをサポート。
• 長期にわたる安定で再現性の高い測定を実現する最適化された電子・光学設計。

用途

• ファイバコイルモジュールのバイアスおよびゼロドリフト試験。
• 温度変動下でのバイアス安定性評価および環境適合性試験。
• 外部磁場干渉下での感度評価。
• 振動・衝撃環境下での機械的試験。
• 製造工程での品質管理および最終検査の迅速化。
• FOG設計の研究開発および性能評価。

動作原理
HD35は閉ループ光ファイバージャイロのアーキテクチャを用いてファイバコイルモジュールを評価します。被試験コイルを機器に接続すると、プラットフォームは光学・電子系を駆動して角速度出力を生成し、バイアス安定性、温度感度、環境性能などの重要パラメータを測定します。二重チャネル設計により、コイル特性に応じて1310 nmまたは1550 nmを選択し、測定精度と柔軟性を最適化できます。

代表仕様（表）
項目: 仕様
寸法: 340 × 265 × 50 mm
重量: 700 g
動作温度: -10°C〜+60°C
電源: 110–250 VAC、50 Hz
定格消費電力: 30 W
チャネル数: 2（1310 nm、1550 nm）
試験誤差（1310 nmチャネル）: ≤ 0.005°/h
試験誤差（1550 nmチャネル）: ≤ 0.0005°/h
測定可能ファイバコイル長（1310 nm）: 200–1500 m
測定可能ファイバコイル長（1550 nm）: 700–5000 m
測定可能Y-waveguide半波電圧: 3–4.4 V
ファイバコイル長設定時間: ≤ 10 s

技術仕様

• モデル: HD35
• バイアス測定精度: 0.0005°/h以下（1550 nmチャネル）
• チャネル: 二重チャネル（1310 nm & 1550 nm）
• 寸法: 340 × 265 × 50 mm
• 重量: 700 g
• 動作温度範囲: -10°C〜+60°C
• 電源: 110–250 VAC、50 Hz
• 消費電力: 30 W
• 測定可能ファイバコイル長範囲: 200–1500 m（1310 nm）、700–5000 m（1550 nm）
• Y-waveguide半波電圧: 3–4.4 V
• ファイバコイル長設定時間: ≤ 10 s