熱サイクル用テスト システム

... OEMとバッテリー・サプライヤーは、進化する自動車市場のために新しいパックを開発し続けなければならない。バッテリー電気自動車（BEV）にとって、走行距離は重要な要素であり、バッテリーセルとパックの容量は極めて重要である。容量に加えて、電流と電圧もバッテリー開発の中心です。そのため、バッテリーパックを検証するための試験システムは最先端のものである必要があります。 当社のAVLソリューションは、さまざまな環境条件下ですべての重要なパラメーターを測定します。さらに、バッテリー試験に必要な追加ツールに接続する多機能インターフェースを備えています。AVLは、バッテリー開発におけるあらゆるニーズに対応するハードウェアとソフトウェアのクローズドツールチェーンを持っています。お客様のための開発サービスと試験装置の独自開発の組み合わせにより、AVLはバッテリー試験の領域で直面する課題を総合的に捉えることができます。 最大限の信頼性のための安全性と統合 AVLバッテリーモジュール/パックTS™は、モジュールおよびパックレベルでの信頼性が高く安全なバッテリー試験のために設計された、完全に統合された試験システムです。高度な技術、堅牢な安全機能、シームレスなシステム統合を組み合わせ、最新のバッテリー開発の要求を満たします。 主な特長 AVL ...

... SANWOOD メモリバーンイン試験システム メモリIC向け統合バーンインおよび機能試験 SANWOODメモリバーンイン試験システムは、制御された熱環境、電気的ストレス、およびメモリ機能試験を、構成可能なプラットフォームに統合しています。バーンインボード（BIB）を中核として設計されており、 デバイスの並列スクリーニングおよび信頼性評価をサポートし、お客様のメモリ製品やテストプロセスに合わせてシステム構成を調整可能です。 チャンバーの寸法、デバイス収容数、基板配置、および熱負荷能力は、パッケージサイズ、BIB設計、動作電力、生産要件に応じてカスタマイズ可能です。 バーンインとメモリテストの統合 1つのテストワークフロー内で、温度曝露、電気的励起、および機能テストのシーケンスを連携させます。DRAMおよびLPDDRアプリケーションの場合、構成にバーンインおよびコアテストを組み込むことで、ストレススクリーニングとデバイス評価間の移行を効率化できます。 電気的テスト条件、デバイス接続、およびテストプログラムは、選択されたメモリファミリーとテスト目的に合わせて調整されます。 デバイス収容数を設定可能な並列テスト BIBベースの配置により、複数の基板にまたがって複数のデバイスを収容できます。収容数は、デバイスパッケージ、ソケットレイアウト、BIBの寸法、利用可能な基板位置、および動作時の熱負荷によって決定されます。 SANWOODは、必要なサンプル数とスループートに合わせてチャンバーサイズとロード配置を構成でき、お客様のテストニーズの拡大に合わせて装置容量を計画するお手伝いをします。 通電メモリ負荷の熱制御 実装済みのメモリボードが電気的ストレス下で動作する場合、温度分布は重要な考慮事項となります。 ...