熱サイクル用テスト システム SM-ZOV665-W5K

機能的安全性熟成パフォーマンス

SANWOOD シングルドア型動的ICバーンインおよびHTOL試験システム SANWOOD SM-ZOV665-W5Kは、温度制御チャンバーとプログラム可能な電気的試験パターンを組み合わせ、動的バーンインおよび高温動作寿命（HTOL）試験を行うことができます。 本システムは、バーンインボード（BIB）上の通電済みICを高温環境で動作させ、エンジニアが熱的および電気的ストレス下でのデバイスの挙動を監視できるようにします。 主な特長 バーンイン中にICのロジックおよびメモリを動作させるためのプログラム可能なテストベクトル スロット単位の電源絶縁およびプログラム可能な電流制限 故障解析のためのスロットごとの電圧、電流、温度の記録機能 技術仕様 モデル — SM-ZOV665-W5K、シングルドア構成 チャンバー温度範囲 — 周囲温度 ±10°C ～ ±150°C バーンイン基板収容能力 — 16スロット バーンイン基板サイズ — 450 × 570 mm 信号チャネル — 計184チャネル（共通ドライバチャネル160、I/Oチャネル24） 最大システム繰り返しレート — 20 MHz ベクトルメモリ — 64Mワード エラーログ容量 — I/Oあたり2K デバイス電源 — デフォルト構成でBIBあたり8チャンネル 内部寸法（幅 × 高さ × 奥行） — 800 × 1,320 × 630 mm 外形寸法（幅 × 高さ × 奥行） — 1,920 × 2,287 × 1,600 mm カスタマイズ チャンバー内部寸法およびテストラックの構成は、お客様のBIBの寸法、基板間隔、および積載要件に合わせてカスタマイズ可能です。 用途および試験実績 自動車用SoC、マイクロコントローラ、AIアクセラレータ、メモリIC、およびパワーマネジメントICのバーンインスクリーニングおよび動作寿命評価に適しています。 デバイスおよび試験計画に応じて、関連する規格として、HTOLに関するJEDEC JESD22-A108、自動車用ICのHTOLに関するAEC-Q100試験B1、およびマイクロ回路のバーンインに関するMIL-STD-883メソッド1015などが挙げられます。 構成案をご希望の場合は、デバイスの種類、BIB図面、電気的負荷、および必要なテストプロファイルをお知らせください。 製品ページ — https://www.sanwood.us/products/189.html メール — info@sanwood.com