熱サイクル用テスト システム SC-588-CD-F

機能的安全性熟成パフォーマンス

SANWOOD eMMCメモリバーンイン試験システム SANWOOD eMMCメモリバーンイン試験システムは、制御されたチャンバー温度と、プログラム可能な読み出し、書き込み、消去シーケンスを組み合わせています。熱ストレス下でもeMMCデバイスをアクティブ状態に保ち、生産スクリーニング、耐久試験、およびデータ保持評価のために複数のデバイスを並列で試験します。 主な特長 高密度テストボード上でのeMMCデバイスの並列テスト 各スロットでの電圧マージン試験のための、独立してプログラム可能なVCCおよびVCCQ電源 バーンイン中に組み込みフラッシュコントローラを動作させるための、設定可能な読み出し、書き込み、消去パターン 並列テスト中の不良デバイスの特定を支援するスロットレベルのモニタリング モデルおよび仕様 チャンバー温度制御範囲 — −70°C ～ 150°C SC-588-CD-F — 588 L シングルチャンバー SC-588-CD-F 内部寸法（幅 × 高さ × 奥行） — 800 × 1,050 × 700 mm SC-588-CD-F 外形寸法（幅 × 高さ × 奥行） — 1,890 × 1,925 × 1,520 mm LS407H — デュアルチャンバー構成 LS407H 外形寸法（幅 × 高さ × 奥行） — 4,000 × 2,120 × 1,520 mm カスタマイズ チャンバー内寸およびテストラックの構成は、お客様のテスト基板の寸法、必要な基板間隔、および対象スロット数に合わせてカスタマイズ可能です。 用途およびテスト事例 自動車用電子機器、産業用コントローラ、ネットワーク機器、IoTデバイスに使用される組み込みストレージ向けに設計されています。 テスト計画では、eMMC 5.1インターフェースについてはJEDEC JESD84-B51を、耐久性およびデータ保持評価については、該当する場合、JESD22-A117またはAEC-Q100-005を参照することができます。 構成案をご提案いただく際は、eMMCのパッケージタイプ、テストボードの図面、対象スロット数、および温度プロファイルをお知らせください。 製品ページ — https://www.sanwood.us/products/190.html メール — [email protected]