熟成テスト システム MX300R

不特定オンサイト高電圧

製品概要
MX300Rシリーズは、高温逆バイアスによる電圧ストレス劣化試験向けの試験システムです。加熱ユニット、温度制御ユニット、高/低電圧源、および制御・データ収集ユニットを統合し、IGBT、SiC、MOSFET、ダイオードなどのパワーデバイスに対する高温下での電圧ストレス劣化試験を行い、信頼性評価を行います。

主な特徴

• 高精度測定：漏れ電流に応じた自動電流レンジ選択により測定精度を確保します；
• リアルタイム監視・記録：試験温度、各チャネルの電圧・漏れ電流を継続的に取得し、変化の全履歴を記録します；
• 独立した高電圧破壊保護：各治具に直列保護素子を配置し、デバイス故障による試験基板損傷を防止します；
• 幅広いデバイス互換性：Si/SiC/GaNのパワーデバイスに対応し、単体チップおよびモジュール封止の両方をサポートします（IGBT、MOSFET、DIODE）。

仕様 / 技術データ

• 型番：MX300R
• 試験種類：高温電圧ストレス劣化試験（逆バイアス）
• 主な構成：加熱ユニット、温度制御ユニット、高/低電圧源、制御・収集ユニット
• 適用デバイス：IGBT、SiC、MOSFET、DIODE（単体チップおよびモジュール対応）
• 保護機能：独立した高電圧破壊保護および各治具の直列保護素子
• データ収集：温度、各チャネル電圧、漏れ電流をリアルタイム監視し、変化履歴を記録
• 測定精度：実際の漏れ電流に応じて電流レンジを自動切換えし精度を維持
• 注：ページにはEAN、価格、または完全なテキスト仕様書は提供されていません（一部仕様は画像で表示されています）