研究所用テスト システム MX710D SiC

半導体用オンサイト精密

製品紹介
MX710Dシリーズは、SiCの実験室向け動的試験システムであり、高精度なプログラム可能直流電源、治具ユニット、計測・制御ユニット、ドライバ制御ユニット、保護ユニットおよび各種試験機器で構成されています。自社開発のシステム試験ソフトウェアを採用し、SiCデバイスの動的特性（ターンオン、ターンオフ、ダイオードの逆回復、短絡特性など）を安定かつ高精度に評価するためのプラットフォームを提供します。

製品の特長

• 実験室用途向けに設計され、試験機能が充実：単パルス、二重パルス、短絡試験に対応；
• 過電流保護を備え、デバイス故障時に素早く電流回路を遮断；
• 寄生インダクタンスを極力抑えるコンパクト設計で、SiCの高速スイッチング試験に対応；
• 高い互換性：各種デバイス、モジュール、回路に対して、適切な構成や治具で対応可能；
• 操作性に優れたHMIを採用し、簡便な操作が可能。

製品インターフェース / 画像
（ページには複数のデモ画像プレースホルダを配置しています。実際のページでは製品図とインターフェースのスクリーンショットを表示します）

適用範囲
SiC（炭化ケイ素）パワーデバイスの動的特性試験を行う実験室に適しており、パラメータ検証や研究開発に使用されます。

特長 / 技術仕様（概要）

• 型番：MX710Dシリーズ；
• 適用デバイス：SiC（炭化ケイ素）パワーデバイス；
• システム構成：プログラム可能直流電源、治具ユニット、計測・制御ユニット、ドライバ制御ユニット、保護ユニットおよび付属試験機器；
• 対応試験：ターンオン、ターンオフ、ダイオード逆回復、短絡特性、単パルスおよび二重パルス試験に対応；
• 保護機能：過電流保護により回路を迅速に遮断；
• 設計要件：SiCデバイスの高速スイッチング試験を満たす低寄生インダクタンス；
• ソフトウェア：自社開発のシステム試験ソフトウェアとHMIを搭載。