製品概要MX700D SiC動的試験システムは、高精度プログラム可能直流電源、治具ユニット、測定・制御ユニット、ドライブ制御ユニット、保護ユニットおよび付随する試験機器から構成されます。自社開発のシステム試験ソフトウェアを採用し、SiC素子の動的特性パラメータの安定かつ精度の高い試験プラットフォームを提供します。
製品特長- 試験機能が充実:単パルス、二重パルス、短絡試験および故障充電試験をサポート;
- 過電流保護:素子故障時に迅速に電流回路を遮断;
- 極めて低い直列インダクタンス:回路を工夫した設計により直列インダクタンスを最小化し、SiC試験要件を満たす;
- 高い互換性:異なる試験治具を組み合わせることで各種パッケージ・回路に対応;
- 独立した複数のドライブユニット:マルチユニット試験時のチャンネル間一貫性を確保;
- 操作性に優れたHMI:直感的で扱いやすい操作画面。
仕様 / 技術的詳細- 型番:MX700D(SiC動的試験システム)
- 構成ユニット:プログラム可能直流電源、治具ユニット、測定・制御ユニット、ドライブ制御ユニット、保護ユニットおよび付随試験機器
- 対応試験種類:単パルス、二重パルス、短絡試験、故障充電試験
- 保護機能:過電流保護により素子故障時に電流回路を迅速に遮断
- 回路特性:低直列インダクタンス設計でSiC動的試験に適合
- 互換性:交換/適合させた試験治具により各種パッケージ及び回路をサポート
- ドライブ:独立した複数チャネルのドライブユニットでチャネル間の一貫性を確保
- ソフトウェア:自社開発のシステム試験ソフトウェアにより安定かつ精度の高い試験プラットフォームを提供