GaN FET用テスト システム

... 製品概要
Hatina WLBI は、ウエハ上のパワーデバイス向けに設計されたウエハーレベルの Burn-In（WLBI）および HTOL ソリューションです。コンパクトな試験チャンバー（概寸 560×560×550 mm、仕様表 D×W×H 560×560×560 mm）は標準的なウエハプローバーに接続してフルウエハのバーンインを高並列で実行します。各 DUT にヒーターを内蔵し、オーブンを用いない局所的で低消費電力の温度制御を実現することで、エネルギー消費と占有面積を低減し、オートメーション統合を簡素化します。

主な利点

• 対応技術：Si、SiC、GaN

... 製品概要
PST6747Aiシリーズは、パワー半導体デバイスの静的パラメータを精密に測定・解析するための半導体試験システムです。3 kV（10 kVオプション）/2200 Aまで対応し、高速パルス動作や fA レベルの電流検出をサポートし、IGBT、GaN、SiC 等の最新デバイスの特性評価に適しています。

モデル

• PST6747Ai：高精度、研究開発向け。試験レポートは詳細な特性曲線とパラメータを提供します。
• PST6747Ai-F：高精度、工場出荷前の製品試験向け。レポートはユーザードキュメントに利用可能です。
• PST6747Ai-L：標準精度、材料受入れ／供給元比較試験向け。メーカーの報告と比較しやすい形式のレポートを提供します。