抵抗率テスト システム DXHCR1100

プロセス半導体用燃料電池

製品概要
Dexinmagの機器は、ゼーベック効果・ペルティエ効果・トムソン効果などの熱電相互作用を、室温（RT）から1500°Cまでの温度帯でゼーベック係数と抵抗率を同時に測定して評価します。熱起電力（ゼーベック係数）はV/Kで表され温度依存性があります。DXHCR1100は制御雰囲気や多様な試料形状に対応し、研究開発および品質管理に適しています。

適用分野

• 熱電材料開発：半導体、スカッタルダイト等の熱電材料のゼーベック係数および電気伝導度の測定、ZT算出、高温評価（最大1500°C）や制御雰囲気下（真空／還元／酸化）での評価。
• 電子・機能性材料の特性評価：半導体薄膜、導電性ポリマー、金属酸化物の電気輸送特性研究；高温超伝導体やセラミック複合材料の抵抗−温度特性評価。
• エネルギー材料・デバイス研究：リチウムイオン電池電極や固体電解質の抵抗率・接触特性解析；燃料電池用触媒の導電性評価（各種雰囲気下）。
• 産業向け品質管理・プロセス最適化：合金、セラミックス、炭素材料の熱電特性試験による焼結プロセス指針；高温耐性・耐食性材料の評価。
• 学術研究・規格試験：大学・研究機関での基礎研究や規格（例：ASTM E1225）に基づく認証試験に適合。

試験機能

• 統合型インテリジェント測定ソフト（Windows 10/11）による自動励起、データ取得、リアルタイム処理、結果出力。
• テンプレート編集と最小限パラメータ入力による再現性の高い測定ワークフロー。
• リアルタイム測定・解析、最大32曲線の比較、曲線差分・重ね合わせ。
• 高機能解析：曲線拡大、1次／2次微分、マルチピーク解析、DSC/TG/TMA/DIL等の補完的手法対応。
• 多点温度校正およびエンタルピー／熱流Cp測定ルーチン；ASCII入出力、MS Excel出力対応。
• シーケンス制御による信号管理および長時間試験対応。

製品の特長

• 幅広い温度範囲と制御雰囲気：RT〜800/1100/1500°Cのオプション；不活性、酸化性、還元性、真空に対応。
• 高精度かつ統合測定：ゼーベック範囲1–2500 μV/K（精度 ±7%、再現性 ±3%）；電気伝導度0.01–2×10⁵ S/cm（精度 ±5–8%、再現性 ±3%）。測定法：ゼーベックは静的DC、抵抗率は4端子法。
• 試料対応の柔軟性：円筒（φ6 mm × 23 mm）、角柱（2–5 mm幅 × 23 mm）、ディスク（10 / 12.7 / 25.4 mm）対応；プローブ間隔4/6/8 mm可変、サンドイッチクランプ方式。
• 長期安定性と高温連続試験：電源0–1 A（安定出力）；電極はニッケル（−100–500°C）または白金（−100–1500°C）；K/S/C熱電対および閉ループ温度制御。

製品仕様

• 型番：DXHCR1100
• 温度範囲：RT〜800/1100/1500°C（構成可能）
• 測定原理：Seebeck — 静的DC；抵抗率 — 4端子法
• 雰囲気：不活性、酸化性、還元性、真空
• 試料ホルダ：2電極間のサンドイッチクランプ方式
• 対応試料寸法：円筒 φ6×23 mm；角柱 2–5 mm × 23 mm；ディスク 10 / 12.7 / 25.4 mm
• プローブ間隔調整：4 / 6 / 8 mm
• ゼーベック測定範囲：1–2500 μV/K（±7% 精度、±3% 再現性）
• 電気伝導度測定範囲：0.01–2×10⁵ S/cm（±5–8% 精度、±3% 再現性）
• 電源：0–1 A（安定出力）
• 電極材質：ニッケル（−100〜500°C）／白金（−100〜+1500°C）
• 熱電対：K / S / C 種類

技術仕様

• 型番：DXHCR1100
• 温度オプション：RT–800/1100/1500°C
• Seebeck法：静的DC
• 抵抗率法：4端子法
• 対応雰囲気：不活性、酸化性、還元性、真空
• プローブ間隔：4 / 6 / 8 mm
• 試料種別：円筒、角柱、ディスク（上記寸法）