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Xiamen Dexing Magnet Tech. Co., Ltd.
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レーザドップラー振動計
DXLV-03
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レーザドップラー
詳細
DXLV-03は、高分解能の変位および速度振動測定用の非接触ファイバーレーザードップラー振動計で、研究およびエンジニアリングの試験用途向けに設計されています。
主な特長:
非接触測定により高い空間分解能と変位分解能を実現
ファイバーによる小型・一体化設計で高い耐干渉性
周囲光や試料色の影響を受けない
同軸送受信により測定の死角を排除
センササンプリングレート:最大 5 MHz
異常な光条件に対する耐性 > 60,000 lux
適用事例:
レーザーバイブロメータ + 可変温度ブロック試験箱
電極の調整ストローク ≥ 3 mm、分解能 0.01 mm
試料サイズ < 30 mm
試験箱の試験電圧 ≥ 10 kV
加熱温度範囲:室温〜250℃
輸入ブランドの温度コントローラ採用
過温度・過電流保護機能
レーザーバイブロメータ + 高温ブロック試験箱
電極の調整ストローク ≥ 3 mm、分解能 0.01 mm
試料サイズ < 30 mm
試験箱の試験電圧 ≥ 10 kV
加熱温度範囲:室温〜800℃
輸入ブランドの温度コントローラ採用
過温度・過電流保護機能
レーザーバイブロメータ + 高低温試験治具
デバイスおよびバルク素材の歪み測定に適合
試料サイズ < 40 mm
試料箱の試験電圧 ≥ 2 kV
加熱/冷却範囲:-196℃〜250℃
輸入ブランドの温度コントローラ採用
過温度・過電流保護機能
レーザーバイブロメータ + 薄膜カンチレバー試験治具
薄膜圧電試験(E31)と併用し、圧電係数(E31、D31、D33、E33)および厚み変位対電圧を測定
印加電圧下でのカンチレバー基板曲げ変位を高速で計測
技術仕様:
型番:DXLV-03(ファイバーレーザードップラー振動計)
光電子集積チップ技術
センササンプリングレート:5 MHz
変位分解能:0.01 nm
測定レーザ波長:1310 nm
測定周波数範囲:DC〜2.5 MHz
振動周波数精度:0.02%
振動速度レンジ:4.5 m/s(標準);高速版は最大 20 m/s
アナログ出力:±5 V
ソフトウェア:生データインターフェースおよび統合/開発用SDKを提供
電源:12 V DC;消費電力:4 W
耐ノイズ光性:異常光干渉に対して > 60,000 lux の耐性
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