誘電性特性評価装置

概要

誘電率測定システムは、幅広い温度・周波数領域で絶縁材料および機能性材料の電気特性を評価するための温度制御型インピーダンス／誘電体解析プラットフォームです。連続かつ高速な測定をサポートし、破壊試験や熱刺激脱分極電流（TSDC）などの拡張機能にも対応可能です。

測定パラメータ

• 温度範囲：-185°C〜600°C
• 温度制御精度：±0.25°C
• 昇温速度：最大10°C/分（設定可能）
• 試料寸法：φ < 25 mm、厚さ < 4 mm
• 電極材料：白金（Platinum）
• クランプ補助材：窒化アルミニウムセラミック
• 試験周波数：20 Hz〜10 MHz（構成により最大30 MHzまで対応可能）
• 低温冷却：液体窒素
• 加熱方式：直流（DC）電極加熱
• 冷却方式：水冷
• データ伝送：RS-232
• 入力電圧：110〜220 V
• 機器寸法：180 mm × 210 mm × 50 mm

特長

• 直流電極加熱とフィルタリングにより、電源網の高調波干渉を除去して測定安定性を向上。
• 三電極測定法とインピーダンス整合リード線により、リード線インピーダンスや高温時のシールド制約による誤差を低減。
• 試料温度測定と電極設計を最適化（例：試料へのスパッタ導電被膜）し、寄生容量や空間的影響を最小化。
• 破壊試験やTSDCなどの追加機能への拡張が可能なアーキテクチャ。

制御ソフトウェア

• LabVIEWベースのソフトウェア：安定動作、停電時データ保存および画像データ保存に対応；Windows XP、7、10に対応。
• 多言語インターフェース：中国語および英語をサポート。
• 試験状態のリアルタイム監視、状態表示アイコン、ユーザー権限管理、装置故障アラーム機能。
• ワンクリック印刷およびExcel/PDFへのエクスポートが可能なカスタムレポート；測定曲線や画像の保存。
• Keysight（E4990、E4991、E4980A）、Wayne Kerr（6500B、6530、4235）、Tonghui（2983、2838、2851）等のインピーダンスアナライザとの互換性。

測定パラメータと試験機能

• 温度依存誘電スペクトルおよび周波数依存誘電スペクトルの測定。
• 測定電気量：誘電率 ε'（実数）および ε''（虚数）；C'、C''（静電容量の実数/虚数）；損失 D；R'、R''（抵抗）；Z（Z'、Z''）インピーダンス；Y（Y'、Y''）アドミタンス；X リアクタンス；Q 品質係数；Cole‑Cole図；電気機械結合係数 Kp。
• モード選択：等価回路に応じた並列/直列モード。
• 測定周波数：ソフトウェアで設定可能。
• データ・画像処理：測定データ、曲線、画像のエクスポートおよび保存が可能。

技術仕様

• 温度範囲：-185°C〜600°C
• 温度制御精度：±0.25°C
• 昇降温速度：最大10°C/分（設定可能）
• 試料寸法：φ < 25 mm、厚さ < 4 mm
• 電極材料：白金（Platinum）
• クランプ補助材：窒化アルミニウムセラミック
• 加熱方式：直流電極加熱
• 低温冷却：液体窒素
• 冷却方式：水冷
• 試験周波数（標準）：20 Hz〜10 MHz；構成により最大30 MHz対応
• データ伝送：RS-232
• 入力電圧：110〜220 V
• 機器寸法：180 mm × 210 mm × 50 mm