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MOSFETS、IGBT、ダイオード、その他のハイパワー・デバイスを開発および使用するには、破壊電圧、オン状態電流、容量の測定など、デバイスレベルの包括的な特性評価が必要です。 ケースレーのハイパワー・パラメトリック・カーブ・トレーサ・シリーズでは、あらゆるデバイス・タイプおよびテスト・パラメータがサポートされています。 ケースレーのパラメトリック・カーブ・トレーサには、特性評価を担当するエンジニアが完全なテスト・システムを迅速に開発するために必要なものすべてが含まれています。
... タンパク質、共役体、高分子、ナノ粒子の絶対特性評価のための世界で最も先進的な光散乱装置です。 DAWN® HELEOS® IIは、溶液中のモル質量およびナノ粒子の大きさの絶対的特性評価を行う、最高のマルチアングル静的光散乱（MALS）検出器です。 DAWNは、最高の感度、分子量、サイズ、濃度の広い範囲、および強化されたカパビリット用の構成とオプションのモジュールを提供します。 DAWNはゲル浸透クロマトグラフィー（GPC-MALS）またはサイズ排除クロマトグラフィー（SEC-MALS）またはフィールドフロー分画（FFF-MALS）と組み合わせて使用され、基準基準によるカラム校正とは無関係に質量、サイズ、組成の分布を決定します。 ...
Wyatt Technology
... カーボンブラックについてはASTM D2414 OANおよびD3493 COAN、シリカについてはASTM D6854、およびISO 4656に準拠した吸油データシステム。 DABSとは、カーボンブラックやシリカの構造を評価するための吸油システムであり、他の粉体材料の吸油性を評価するためのシステムです。 完全な混合曲線を記録するためのデータ処理は、HITECルクセンブルグによって開発されたものであり、それ以来、増加する性能要求を満たすために常に拡張されています。3次の多項式によるカーブフィッティングは、この初期の開発の成果であり、ASTM ...
... 頂点単一センサは、プラズマ反応器内の表面に当たるアスペクト比の関数としてイオンエネルギー分布を測定します。 この独自のプラズマ特性評価装置は、イオンエネルギー、イオンフラックス、バイアス電圧を測定することもできます。 フィーチャーの底部に当たるイオンの角度は、アスペクト比の関数としてイオンエネルギー分布から決定できます。これにより、プラズマ反応器内の所定の位置でエッチングプロファイルの品質を監視できます。 頂点単一センサは、プラズマ内の表面におけるアスペクト比、イオンエネルギー、イオンフラックス、マイナスイオンおよびVdcの関数としてイオンエネルギー分布を測定します。 ...
Impedans Ltd
... 概要
誘電率測定システムは、幅広い温度・周波数領域で絶縁材料および機能性材料の電気特性を評価するための温度制御型インピーダンス／誘電体解析プラットフォームです。連続かつ高速な測定をサポートし、破壊試験や熱刺激脱分極電流（TSDC）などの拡張機能にも対応可能です。
測定パラメータ
- 温度範囲：-185°C〜600°C
- 温度制御精度：±0.25°C
- 昇温速度：最大10°C/分（設定可能）
- 試料寸法：φ
... 金属の電子仕事関数測定装置は、加熱された金属陰極からの熱電子放出を測定し、リチャードソンの線形法を用いて金属の電子仕事関数を決定します。これは、陰極材料の熱電子放出特性および表面の物理特性を研究する目的で設計されています。
装置の構成：
装置は実験ユニットと上部に搭載された金属ダイオードで構成されています。
特長：
- 統合設計により複雑な配線を不要にします。
- ダイオードは透明なハウジングで保護され、損傷に強い構造です。
実験の詳細：
理想ダイオードを用いた金属タングステンの電子仕事関数の測定。
目的：
- 熱電子放出の基本原理を理解し、仕事関数を測定する方法を習得すること。
- リチャードソンの線形法により金属タングステンの電子仕事関数を求めること。
- データ処理手法を学ぶこと。
仕様 ...
... コンパクトで費用対効果が高く、フレキシブル。 開発およびラボ環境向けの最先端のセンサーシステムレベルのテスト。 S-TEST/2 卓上型装置 コンパクト設計、豊富な機能。 SPEKTRAの卓上型ユニットS-TEST/2は、そのコンパクトな設計にもかかわらず、完全なテストインターフェースを提供し、センサー開発者が製品の正しい機能と性能を常にチェックしながら、製品開発段階ですでに変化する技術要件に柔軟に対応することを可能にします。 センサーの励起 市場トップの実力。 加速度や圧力などのさまざまな刺激と組み合わせることで、センサーはテストラボや開発中に、ほぼ実際の現場条件下でテストすることができます。S-TEST ...