重クロム酸パイロメーター CellaCrystal PX 44デジタル ディスプレイレーザーポインター付きIO-Link
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特徴
- 技術
- 重クロム酸
- ディスプレイ
- デジタル ディスプレイ
- 照準機能
- レーザーポインター付き
- 通信
- IO-Link
- 保護レベル
- IP65
- 形状
- 固定型
- その他の特徴
- 精密
- 温度域
最大: 3,000 °C
(5,432 °F)1,000 °C
(1,832 °F)最少: 750 °C
(1,382 °F)- 精度
0.35 %
- 分解能
0.2 °C
(32.36 °F)- スペクトル領域
最大: 1.1 µm
最少: 1 µm
- 応答時間
最大: 10 ms
10 ms
最少: 10 ms
詳細
CellaCrystal PX 44 は、Si および SiC 結晶の製造における光学式温度測定用に開発されました。校正は特に成長プロセスに合わせて調整されています。測定範囲全体にわたって常に 0.1 K 未満の高分解能を実現するハイブリッド信号評価と、均一光センサー技術による非常に高い長期安定性により、この装置は求められる測定精度に対する高い要求を満たします。
特集:
PX 44 AF 4: シリコン結晶製造用の特殊校正
PX 44 AF 4: シリコンカーバイド製造用の特殊校正
高い計測分解能のためのハイブリッド信号評価
自己発熱が最小限であるため長期にわたって高い安定性
測定距離を正確に調整できる焦点調整可能なレンズ
標準機能: IO-LINK インターフェースとアナログ出力
カタログ
見本市
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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。
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