インクリメンタルリニアエンコ—ダ 45-59-414-6000
磁気アナログ高解像度

インクリメンタルリニアエンコ—ダ - 45-59-414-6000 - Märzhäuser Wetzlar - 磁気 / アナログ / 高解像度
インクリメンタルリニアエンコ—ダ - 45-59-414-6000 - Märzhäuser Wetzlar - 磁気 / アナログ / 高解像度
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特徴

タイプ
インクリメンタル
技術
磁気
出力シグナル
アナログ
その他の特徴
高解像度, 高精度
長さ

2,000 mm
(78.74 in)

詳細

製品説明
  • Nikon Eclipse Ni-U用 Z軸測定システム
  • 線形測定システム nanoScale (MR/analog 5Vss) による高精度位置フィードバック
  • TANGOコントローラと組み合わせることでZ軸のクローズドループ動作を可能にします
  • 代替として位置表示器 PROFILER SCD への接続が可能です
  • 付属品:MRエンコーダーケーブル、2 m


対応顕微鏡
  • Nikon - Eclipse MA100N(倒立型顕微鏡)
  • Nikon - Eclipse Ni(正立型顕微鏡)


データシート
  • 45-59-41X-6000_Z-Achsen_Messsystem_DE.pdf
  • 45-59-41X-6000_Z-Axis_Measuring_System_EN.pdf


特性 / 技術仕様
  • 品番: 45-59-414-6000
  • 名称: Z軸測定システム
  • 測定システム: 線形 nanoScale (MR/analog 5Vss)
  • エンコーダーケーブル: MRエンコーダーケーブル付属、2 m
  • 動作モード: TANGOコントローラによるクローズドループ動作をサポート
  • 代替表示/接続: PROFILER SCD
  • 利用可能なデータシート: 45-59-41X-6000_Z-Achsen_Messsystem_DE.pdf, 45-59-41X-6000_Z-Axis_Measuring_System_EN.pdf

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この販売者が参加する展示会

SPIE Photonics West San Francisco 2027
SPIE Photonics West San Francisco 2027

30 1月 - 04 2月 2027 San Francisco (米国-カリフォルニア)

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