Z軸ナノ位置決めステージ 45-59-412-6000
単軸ポジション エンコーダ顕微鏡

Z軸ナノ位置決めステージ - 45-59-412-6000 - Märzhäuser Wetzlar - 単軸 / ポジション エンコーダ / 顕微鏡
Z軸ナノ位置決めステージ - 45-59-412-6000 - Märzhäuser Wetzlar - 単軸 / ポジション エンコーダ / 顕微鏡
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特徴

方向
Z軸
軸の数
単軸
その他の特徴
ポジション エンコーダ, 顕微鏡, 測定用, 閉ループ

詳細

製品説明
  • 品番: 45-59-412-6000
  • Nikon L200 / L200N / L300N 用 Z軸計測システム
  • 線形計測システム nanoScale (MR / analog 5Vss) による高精度位置フィードバック
  • TANGO コントローラと組み合わせて Z軸のクローズドループ動作を可能にする
  • 代替として PROFILER SCD の位置表示への接続が可能
  • 付属品: MR エンコーダーケーブル、長さ 2 m


対応顕微鏡
  • Olympus - BX41(正立顕微鏡)
  • Nikon - L300 / L300D / L300N(正立顕微鏡)
  • Nikon - Eclipse L200 / L200A / L200D / L200N(正立顕微鏡)


データシート(ファイル名)
  • 45-59-41X-6000_Z-Achsen_Messsystem_DE.pdf
  • 45-59-41X-6000_Z-Axis_Measuring_System_EN.pdf


技術仕様 / 特性:
  • 品番: 45-59-412-6000
  • タイプ: Z軸計測システム
  • 計測システム: nanoScale (MR / analog 5Vss)
  • 機能: TANGO コントローラで Z軸のクローズドループ動作を可能にする
  • 代替表示/接続: PROFILER SCD
  • 付属品: MR エンコーダーケーブル、長さ 2 m
  • 互換性: 複数の Nikon および Olympus 正立顕微鏡(対応顕微鏡参照)

カタログ

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この販売者が参加する展示会

SPIE Photonics West San Francisco 2027
SPIE Photonics West San Francisco 2027

30 1月 - 04 2月 2027 San Francisco (米国-カリフォルニア)

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