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光学顕微鏡 Eclipse Ci-POL
素材検査用表面検査用分析用

光学顕微鏡 - Eclipse Ci-POL - Nikon Metrology - 素材検査用 / 表面検査用 / 分析用
光学顕微鏡 - Eclipse Ci-POL - Nikon Metrology - 素材検査用 / 表面検査用 / 分析用
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特徴

タイプ
光学
応用
素材検査用, 表面検査用, 分析用, 研究用, 宝石学用, 非金属介在物検査用, 薄膜測定用, 教育用, 産業用, 多目的, 品質管理用, 素材研究用, 法医学用
エルゴノミクス
正立型
顕微鏡のヘッド
三眼, 双眼
観察法
明視野式, 蛍光, 偏光板, スペクトル, 暗視野式, 差動微分干渉コントラスト
構成
卓上, コンパクト, 携帯型
光源
同軸照明
その他の特徴
モジュール式, デジタル カメラ, 高解像度, 人間工学, アスベスト認識用, 高増粘性, 長距離作業式, 画像処理用, 費用対効果が高い, 簡易設置, 高コントラスト, 光強度制御付き, 可変温度式, 高精度, フラットサンプル用, 画像キャプチャー
倍率

最大: 100 unit

最少: 5 unit

重量

14 kg
(30.9 lb)

長さ

271 mm
(10.7 in)

247 mm
(9.7 in)

高さ

450 mm
(17.7 in)

詳細

材料の研究から検査まで、さまざまな用途に対応する偏光顕微鏡 ニコンCFI60-POLの優れた光学系に偏光顕微鏡用対物レンズをラインナップ。 接眼レンズでの観察とデジタルイメージングのどちらにおいても優れた画像を提供します。 LV100N POLは、豊富な専用アクセサリーにより、幅広い研究用途に対応可能です。Ci-POLは、コンパクトな透過偏光照明観察専用の顕微鏡です。 ECLIPSE LV100N POL / Ci-POL 薄片状の鉱物サンプルや偏光物質の組成/分布の観察が可能な偏光顕微鏡です。 CFI60-POL 対物レンズシリーズ ニコンの革新的な設計により、高NAと長作動距離を両立。偏光顕微鏡用の対物レンズもラインナップしています。 透過/反射照明で偏光観察が可能 LV-UEPI-N反射照明装置*を搭載することで、透過照明だけでなく反射照明でも偏光観察が可能です。 *Ci-POLに搭載する場合は、外部電源が必要です。 豊富な偏光観察用アクセサリー 定量分析用のアクセサリーとして、各種コンペンセーター、芯出しレボルバー、回転ステージ、中間鏡筒等をご用意しています。 焦準ストローク30㎜ 30mmの長い焦準ストロークにより、高さのあるサンプルも楽に観察可能です。
*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。