光学顕微鏡 Eclipse LV150N
検査用正立型微分干渉コントラスト

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特徴

タイプ
光学
応用
検査用
エルゴノミクス
正立型
観察技術
微分干渉コントラスト
その他の特徴
デジタル カメラ, モジュール式, 半導体用
重量

8.6 kg
(19 lb)

詳細

多彩な反射照明観察に対応した正立顕微鏡シリーズ。電子部品や材料の検査をはじめ、幅広い分野でお使いいただける工業用顕微鏡です。 電子デバイスの検査に最適な反射照明専用正立顕微鏡 ニコンCFI60-2の優れた光学系により、目視観察とデジタルイメージングのどちらにおいても優れた画像を提供。 さまざまな産業分野向けの工業顕微鏡の用途に合わせ、観察方法/目的に応じたスタンド部や照明部の選択を可能にし、多彩な観察方法に対応します。 ECLIPSE LV150NA / LV150N 電子部品、素材・材料、精密金型などさまざまな用途でお使いいただける、反射照明専用工業顕微鏡です。 CFI60-2対物レンズ ニコンの革新的な設計により、高NAと長作動距離を両立。クリアな明視野、暗視野、簡易偏光、微分干渉観察を高い操作性で行えます。

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。