熱サイクル試験機 SM-TTS-D
温度センサー用電子部品用

熱サイクル試験機 - SM-TTS-D - Sanwood Technology - 温度 / センサー用 / 電子部品用
熱サイクル試験機 - SM-TTS-D - Sanwood Technology - 温度 / センサー用 / 電子部品用
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特徴

試験の種類
温度, 熱サイクル
試験済み製品
センサー用, 電子部品用
応用
実験用, エレクトロニクス産業用
設定
卓上型
その他の特徴
自動, LCDパネル付, USB, メモリ付, タッチパネル付き, データ収集システム付き, 空圧式, 低温

詳細

SANWOOD ベンチトップ型熱サイクル試験システム SM-TTS-D SANWOOD SM-TTS-Dは、実験室の作業台上で、部品レベルの迅速な熱サイクル試験を実現します。ベンチトップ型設計により、エンジニアは本システムをサンプル固定具や電気測定機器の隣に設置することができます。 2つの熱試験ヘッドが、温度制御された空気を2つのデバイスに送り込むため、両方のサンプルを同時に試験することができます。 技術仕様 モデル — SM-TTS-D 筐体形状 — ベンチトップ型 試験構成 — 2つのデバイスを同時に試験するための2つの熱試験ヘッド 温度制御範囲 — −80°C ~ 225°C 標準的な空気温度変化時間 — −55°C ~ 125°Cの間で、各方向約10秒 システム風量 — 4~18 scfm (1.89~8.50 L/s) 温度制御モード — エアモードおよび被試験デバイス(DUT)モード 用途 パッケージ済みIC、センサー、光モジュール、および自動車用電子部品の熱特性評価、信頼性試験、および故障解析向けに設計されています。 構成案をご希望の場合は、サンプルの寸法、フィクスチャのレイアウト、および目標温度プロファイルをお知らせください。 メール — [email protected]

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見本市

この販売者が参加する展示会

electronica Munich 2026
electronica Munich 2026

10-13 11月 2026 Munich (ドイツ) ホール C2 - ブース 130

  • さらに詳しく情報を見る
    Semicon
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