概要25MPの超高解像度カメラ向けに設計されたテレセントリックレンズ。工業用検査や計測用途を想定し、対象側・像側ともにテレセントリックな像を提供して視差誤差を抑制し、測定の不確かさを低減、エッジや欠陥検出を向上させます。同軸照明ポートはオプションで対応可能。カメラマウント:F mount。
用途マシンビジョン検査、プリント基板(PCB)・半導体検査、寸法計測、自動光学検査(AOI)、品質管理。
技術仕様表型番:SVL-2X-TC44-FS
倍率:2X
作業距離:110 mm
被写界深度:0.16 mm
歪曲(全開絞り):< 0.1%
分解能 LP/mm:358 LP/mm
解像力:2.8 µm
数値開口(全開):0.12
F値(全開):8.3
カメラマウント:F mount
イメージサークル:φ44 mm
重量:約1.5 kg
主な仕様- シリーズ:SVL-TC44 series
- 型番:SVL-2X-TC44-FS
- 対応センサー:25MPカメラ
- 倍率:2X
- 作業距離:110 mm
- 被写界深度:0.16 mm
- 歪曲(全開):< 0.1%
- 分解能:358 LP/mm
- 解像力:2.8 µm
- 数値開口(全開):0.12
- F値(全開):8.3
- カメラマウント:F mount
- イメージサークル:φ44 mm
- 重量:約1.5 kg