テレセントリックカメラレンズ SVL-TC44
測定および検査用計測学用途マシンビジョン

テレセントリックカメラレンズ - SVL-TC44  - SEIWAOPTICAL - 測定および検査用 / 計測学用途 / マシンビジョン
テレセントリックカメラレンズ - SVL-TC44  - SEIWAOPTICAL - 測定および検査用 / 計測学用途 / マシンビジョン
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特徴

タイプ
テレセントリック
技術的応用
マシンビジョン, 品質管理用, PCB検査, 計測学用途, 半導体検査用, 測定および検査用
その他の特徴
高解像度, メガピクセル解像度, 同軸構成可能
焦点

0.16 mm
(0.01 in)

イメージサークル

44 mm
(1.7 in)

詳細

概要
25MPの超高解像度カメラ向けに設計されたテレセントリックレンズ。工業用検査や計測用途を想定し、対象側・像側ともにテレセントリックな像を提供して視差誤差を抑制し、測定の不確かさを低減、エッジや欠陥検出を向上させます。同軸照明ポートはオプションで対応可能。カメラマウント:F mount。

用途
マシンビジョン検査、プリント基板(PCB)・半導体検査、寸法計測、自動光学検査(AOI)、品質管理。

技術仕様表
型番:SVL-2X-TC44-FS
倍率:2X
作業距離:110 mm
被写界深度:0.16 mm
歪曲(全開絞り):< 0.1%
分解能 LP/mm:358 LP/mm
解像力:2.8 µm
数値開口(全開):0.12
F値(全開):8.3
カメラマウント:F mount
イメージサークル:φ44 mm
重量:約1.5 kg

主な仕様
  • シリーズ:SVL-TC44 series
  • 型番:SVL-2X-TC44-FS
  • 対応センサー:25MPカメラ
  • 倍率:2X
  • 作業距離:110 mm
  • 被写界深度:0.16 mm
  • 歪曲(全開):< 0.1%
  • 分解能:358 LP/mm
  • 解像力:2.8 µm
  • 数値開口(全開):0.12
  • F値(全開):8.3
  • カメラマウント:F mount
  • イメージサークル:φ44 mm
  • 重量:約1.5 kg

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。