温度試験機 HS-LDTS2000

品質パフォーマンス自動

HS-LDTS2000は、量産環境向けに設計されたLDチップの光電性能試験装置であり、常温および高温の制御下で長波長レーザーチップを評価します。自動搬送とインテリジェントな画像処理を統合し、高スループットの品質管理を支援します。

主な機能

• 自動搬送および試験ワークフロー
• 前面および端面のAOI外観検査とOCR文字認識
• 高効率の試験スループット

適用分野

• フォトニクス
• パワーデバイス
• マイクロ波RFデバイス
• 次世代自動車分野

特長

• 自社開発の温度制御ベンチ：常温・高温試験に対応する高精度温度制御
• 高精度ビジョンシステム：再検査機能をサポートし製品の安定性を確保
• 供給互換性：2" GEL-PAKおよび6"ウェハーリングに対応
• 回転テーブル：分担作業の同期運転により効率を向上

特性 / 技術仕様

• 試験能力：長波長レーザーチップの前方光・後方光のLIVパラメータおよびスペクトルパラメータを常温・高温条件で測定
• 試験方法 / 工程：LDチップの光電性能試験（光電特性およびスペクトル測定）
• 対象製品範囲：LDチップ
• チップ寸法範囲：最小 0.15 x 0.2 mm、最大 10.0 x 10.0 mm
• 装置効率：約 4.5–6 S/PCS（具体的な試験用途により変動）