温度試験機 HS-LDTS1000

パフォーマンス自動CNC

概要
HS-LDTS1000は、光電メーカー向けに開発された自動化されたLDチップ光電性能試験装置で、密封された低温環境下で長波長レーザーチップの前面および背面のLIVおよびスペクトルパラメータを測定するために設計されています。自動搬送、インテリジェントな画像処理、AOI外観検査およびOCRを統合し、生産試験と品質管理を支援します。

主な機能と能力

• インラインまたはバッチ試験向けの自動化されたテストシーケンスと高い自動化レベル。
• 前面および端面のAOI外観検査とOCR文字認識。
• 密封された超低温条件でのLIVおよびスペクトル測定。
• 高スループット：典型的なサイクル時間は約4.5～6秒/個（用途により異なる）。

適用分野

• フォトニクス・オプトエレクトロニクスの製造
• パワーデバイスの試験
• マイクロ波/RFデバイスの生産
• 新エネルギー車向け電子部品

技術パラメータ／試験範囲

• 密封された超低温条件下での長波長LDチップの前面／背面のLIVおよびスペクトルパラメータ測定。
• AOIおよびOCRによる前面および端面の試験プロセスに対応。
• 対応チップサイズ：最小0.15 x 0.2 mm、最大10.0 x 10.0 mm。
• 対応供給形態：2" GEL-PAK、6" ウェハーリング。

利点と主な特徴

• 独自開発の温度制御モジュール：高精度制御により超低温試験に対応。
• 高精度ビジョンシステム：再検査機能を備え、品質の安定性を確保。
• 供給互換性：2" GEL-PAK、6" ウェハーリングをサポート。
• 回転テーブル設計：分割ワークステーションの同期運転により効率を向上。

技術仕様

• モデル：HS-LDTS1000
• 試験範囲：超低温下での長波長LDチップ前面／背面のLIVおよびスペクトルパラメータ
• 処理可能チップサイズ：0.15 x 0.2 mm（最小）～10.0 x 10.0 mm（最大）
• 装置効率：約4.5～6秒/個（用途に依存）
• 供給フォーマット：2" GEL-PAK、6" ウェハーリング
• 温度制御：独自設計の高精度制御
• ビジョンシステム：高精度AOI、OCRおよび再検査対応
• 機械設計：同期ワークステーションを備えた回転テーブル