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エレクトロニクス産業用テスト システム Magnum EPIC半導体用
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特徴
- 分野
- エレクトロニクス産業用
- 応用
- 半導体用
詳細
テラダインのMagnum EPICは、最新世代のDRAMデバイスに対応した高性能なテストソリューションです。
- 高性能DRAMデバイスのテストに最適化
- 最新世代の半導体メモリに対応
- 大規模な生産環境での信頼性と拡張性
特徴・仕様:
- 用途：DRAMデバイスのテスト
- 対応デバイス：最新世代DRAM
- 高性能・高信頼性
- 大規模生産対応
