半導体用テスト システム Magnum V
自動

半導体用テスト システム - Magnum V - Teradyne - 自動
半導体用テスト システム - Magnum V - Teradyne - 自動
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特徴

応用
半導体用
その他の特徴
自動

詳細

Magnum Vは、超高性能のFLASHおよびDRAMメモリテストソリューションです。 - 高度なメモリテストアプリケーション向けに設計されています。 - FLASHおよびDRAM技術をサポートします。 - 半導体テスト環境での高スループットと信頼性のために設計されています。 特徴 / 技術仕様: - メモリテストのための超高性能 - FLASHおよびDRAMをサポート - 半導体生産環境に適しています。
*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。