出展者になる
*
my
directindustry
日本語
製品
カタログ
E-MAGAZINE
計測・実験
計量・試験機
半導体用テスト システム
Teradyne
製品
製品
カタログ
半導体用テスト システム
Magnum V
自動
お気に入りに追加する
商品比較に追加する
特徴
応用
半導体用
その他の特徴
自動
詳細
Magnum Vは、超高性能のFLASHおよびDRAMメモリテストソリューションです。 - 高度なメモリテストアプリケーション向けに設計されています。 - FLASHおよびDRAM技術をサポートします。 - 半導体テスト環境での高スループットと信頼性のために設計されています。 特徴 / 技術仕様: - メモリテストのための超高性能 - FLASHおよびDRAMをサポート - 半導体生産環境に適しています。
Teradyneのその他の関連商品
Memory Test
半導体用テスト システム
Magnum VUy
エレクトロニクス産業用テスト システム
Magnum EPIC
半導体用
エレクトロニクス産業用テスト システム
Magnum 7H
半導体用
パフォーマンステスト システム
Magnum 7
電気回路網用
の全商品を見る
関連サーチ
試験機
試験用ベンチ
携帯型試験機
デジタル試験機
自動試験用ベンチ
工業用試験機
テスト システム
連続性試験機
凹凸試験機
研究開発用試験機
自動テスト システム
電気装置試験機
パフォーマンス試験機
ネットワーク試験機
パフォーマンス試験用ベンチ
自動車用途試験機
コンパクトテスト システム
精密テスト システム
モジュール式テスト システム
研究所用テスト システム
*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。
出展企業一覧