ケイ素鋼用測定装置 DX-2012M

パワー緩和用電圧

DX-2012Mシリコン鋼材料測定装置は、さまざまな熱間圧延、冷間圧延、無配向のシリコン鋼材料、および測定されたシリコン鋼変圧器コアの測定に適しています。 電力周波数条件下でのシリコン鋼材料の磁気誘導Bm、比損失Ps、ヒステリシスループ、AC磁化曲線を正確に測定できます。 Windows測定ソフトウェアは簡単に適用されます。 この製品は、中国国家規格GB/T 3655-2000、GB/T 13789-92、および国際規格IEC 404-2、IEC 60404-3、およびIEC 60404-6に準拠しています。 コンピュータとA/Dサンプリングの制御は、従来のアナログブリッジ、周波数メーター、アンメーター、電圧メーター、およびパワーメーターに取って代わり、テストプロセス全体が自動的に完了します。 - テストサンプルの種類: ホットローリング、冷間圧延シリコン鋼材料、パーマロイ、アモルファス、nmクリスタル。 - サンプル形状のテスト: リボンとチップのオープンサンプル、環状、EとUのクロージングサンプル。 - オープン回路サンプルは、閉じた磁気回路を形成するためにEpsteinSquareを採用し、浸透計を選択することもできます。 クロージングサンプルは直接巻線測定下に置くことができ、完成した変圧器は直接測定下に置くこともできます。 - サンプル (鉄心) 、磁化コイル (N1) 、測定コイル (N2) は無負荷トランスを形成します。 - 非誘導抵抗は磁化コイルループに接続され、非誘導抵抗の圧力低下の測定を通じて磁化電流と磁場強度を決定します。磁場ピーク値はデジタルフィードバックによってロックでき、磁場ロック精度は0.5% です。 - コイル測定電圧のデジタル積分によって得られた磁気誘導密度、デジタルフィードバックによってロックされた磁気誘導ピーク値、磁気誘導ロック精度0.2%。 - シンプルなインターフェイスを備えたケーシングに統合された電源とサンプリングアンプ: コンピューターに接続された1つのRS232インターフェイス、A/Dカードに接続された双方向電圧信号。 - ボルタンメトリーとデジタル積分を採用して動的ヒステリシスループを測定します。これにより、 & micro;a、d、Ps、Br、Hcなどの動的磁気特性パラメータを正確に測定できます。 - 最大255のテストポイントまでの自動および連続測定。すべてのテストポイントのテスト時間は、マルチポイントテストでは、約30秒、固定周波数、固定Bm、または固定Hmオプションです。