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軟質磁性材料用測定装置 DX-2012SD
浸透性自動

軟質磁性材料用測定装置
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特徴

測定
浸透性
応用
軟質磁性材料用
その他の測定の特徴
自動

詳細

DX-2012SD軟磁性材料DC測定システムは、DC条件下で軟磁性材料の基本的な磁化曲線と基本的なヒステリシスループを自動的に測定できる包括的な軟磁性測定装置です。静的磁気特性パラメータを正確に測定できます。透磁率 μ i、 μ m、Bs、Br、Hc、Puなどを開始します。 DX-2012SDヒステリシス曲線テストシステムの適当な基準 ◆ GB/T 13012-2008ソフト磁性材料のDC磁気特性の測定方法 ◆ GJB 937-90弱い透磁率測定方法 ◆ GJB 937-90弱い透磁率測定方法 ◆ SJ/T 10281-91磁気部品有効パラメータ計算 ◆ IEC 60404-4ソフト磁性材料のDC磁気特性測定法 ◆ IEC 404-7オープン回路磁気材料保磁力測定方法 ハードウェアDX-2012SDヒステリシスカーブテストシステムの特徴 ◆ 閉回路サンプルの消磁を自動的に完了します。消磁方法はAC低周波消磁で、周波数は10Hz以下で、金属軟磁性材料の初期透磁率の再現性を確保します。 ◆ 衝撃法を使用して、基本的な磁化曲線と透磁率曲線をテストします。 ◆ 衝撃法を使用して、柔らかい磁性材料のリターンラインと関連パラメータの静的ヒステリシスをテストします。 ◆ Persteinの正方形の円で使用される開いたソレノイドおよび愛のスキャン方法の使用を可能にします; DX-2012SDヒステリシス曲線テストシステムのソフトウェアの特徴 ◆ データ計算を自動的に完了し、スパン係数を自動的に修正します。 システムはWinXP/NT/7/8のような主流のオペレーティングシステムを支えます。 ◆ I(t) 、B(t) サンプル波形およびB(H) ヒステリシスループを示す。 ◆ B(H) ヒステリシスループクラスター、B(H) 磁化曲線、 μ(H) 透磁率曲線を表示できます。 ◆ 楽器は操作が簡単で、人間の介入によって中断することができます。 ◆ は強力なファイル管理機能を持っています。 データを自動的に保存し、データを削除し、すべてのデータをクリアする機能があります。 ◆ データファイルには完全なサンプリングデータとサンプルパラメータが含まれており、機器パラメータはテキスト形式を採用しており、他のソフトウェアに簡単に入力できます。 ◆ テストレポートには、完全なグラフ、テスト結果、テスト条件、サンプルパラメーターが含まれています。 ◆ ファイルシステムはデータベース形式を採用しており、直接印刷または出力できます。テスト結果はExcelテーブルに転送されます。 ◆ ユーザーのロゴや会社名を追加するのに便利な中国語と英語の形式にすることができます。 ◆ レポートのサイズと余白を簡単に調整およびテストするための印刷プレビュー機能を備えています。 ◆ はテストレポートを直接印刷するか、またはテストレポートJPG画像ファイルを生成できます。 ◆ 電子メールを介してJPG画像ファイルを直接送信するか、JPG画像ファイルをディスクに保存することができます。 ◆ さまざまなタイプのプリンター、テストレポート、プリンターをサポートしています。紙は正確に一致します。

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。