X 線コンピュータ断層撮影機器 ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT)

CT高解像度高速

ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT）は、内部の幾何要素を含む複雑な部品を微細なレベルでデジタル化します。幾何公差評価または設計値/実測値比較のための完全な3Dデータが得られます。この計測用X線CT装置は、小さなプラスチック部品のデジタル化に特に優れています。 高解像度 3Kデテクタ（3008 x 2512ピクセル）を搭載 高精度 測定室の数学的モデリングを導入 ワーク位置自動調節機能 5軸制御とソフトウェアによるライブビュー オールインワンソフトウェア スキャンから測定・解析までの一貫した高速ワークフローを実現 ZEISS METROTOM 6 scout （GOM CT）は、部品を非常に鮮明なディテールでデジタル化します。その理由の1つは、スキャンデータを取得するために高解像度の3K X線デテクタを搭載していることです。もう1つの理由は、部品を可能な限り最適な位置で測定するためです。これらの理由から、常に最高の分解能でスキャンすることができます。右の写真の左側のデータはZEISS METROTOM 6 scout（GOM CT）で取得したスキャンデータ、右側のデータは一般的なX線CT装置で取得した標準的なデータです。 ZEISS METROTOM 6 scout（GOM CT）は、数学的インテリジェンスを使用して高精度の3Dスキャンデータを生成します。測定シーケンス全体にわたって完全に相互リンクされたアルゴリズムを測定室のデジタルモデリングと組み合わせます。さらにシステムはスキャンに関連するすべてのコンポーネントが、最適化された機械的安定性を備えています。そのため、測定結果に基づき、部品の品質を真に信頼できる高精度な方法で評価し、更なる解析を行うことができます。