周辺測定機 SURFCOM CREST
粗度レーザー干渉

周辺測定機
周辺測定機
お気に入りに追加する
商品比較に追加する
 

特徴

物質的特性
周辺, 粗度
技術
レーザー, 干渉
応用
キャリブレーション用
その他の特徴
コンピューター数値制御(CNC)

詳細

SURFCOM CREST は、高解像度とレーザー干渉計による測定システムが特徴で、校正室でよく使用されています。 SURFCOM CREST は、精度とスピードにおいて新たな基準を打ち立てています。この装置は1回の測定で表面パラメータと輪郭を測定し、測定範囲と分解能の比が42,000,000:1と非常に優れていることが印象的です。 これにより、SURFCOM CRESTは、非常に広い範囲のわずかな表面粗さと輪郭を、すべて1回の測定ランで測定することができます。SURFCOM CRESTは、レーザー干渉計を測定系としてZ軸方向に動作するため、極めて高い精度が得られます。 この測定ステーションはリニア駆動を採用しており、従来のスピンドル駆動の測定機と比較して、大幅な高速化と低振動を実現しています。SURFCOM CRESTは、自動車技術、機械工学、医療技術など、精度とスループットが重要視される分野で威力を発揮します。 例えばSURFCOM CREST は、レンズ、精密ベアリング、駆動スピンドル、レール、インジェクタ、インプラント、精密なフライス加工、研削、ホーニング、ラップ加工部品に最適な装置です。このような理由から、SURFCOM CRESTは校正室でしばしば見受けられます。

---

カタログ

この商品のカタログはありません。

ZEISS Industrial Metrologyの全カタログを見る

見本市

この販売者が参加する展示会

BIEMH 2024
BIEMH 2024

3-07 6月 2024 Bilbao (スペイン) ホール 6 - ブース C-10

  • さらに詳しく情報を見る
    *価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。