- 計測・実験 >
- 分析機器 >
- デジタルパーティクルカウンタ >
- ENVEA
ENVEAのデジタルパーティクルカウンタ
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... br>
特長と利点
- 最大500,000粒子/cm3 までのカウント能力
- コンパクトな設置面積(A20 比で約58%小型)
- 安定した計数を実現する高効率な除水
- 低消費電力(PG 使用時に特に低減)
すべての Airmodus CPC に共通
- 使いやすいタッチスクリーンインターフェース
- 完全に透明なアルゴリズム
- アナログ入出力
ENVEA
サイズ: 3 nm - 2,500 nm
... を成長させ光学的に検出可能なサイズにして検出・計数します。A20-UF は dualCPC 構成での運用や、PSM 機器の検出 CPC として使用できます。データ取得は Airmodus MultiLogger を用い、ACTRIS データ形式にネイ
ティブ対応します。
適合性
- ACTRIS UF ホワイトリスト
- EN 16976:2024
- dualCPC 準拠
個別計数と校正 ...
ENVEA
サイズ: 7 nm - 2,500 nm
... ISO 14644)
技術とバリアント
- 高流量下での粒子成長を可能にする拡張型コンデンサー
- A20 系列で一貫したパルス幅を維持する大型ノズル
- 無臭・非可燃の PG バリアント(ブタノール代替)
- 装置による粒子放出ゼロでクリーンルーム
ENVEA
サイズ: 10 nm - 2,500 nm
... 用いて、直径 10 nm までの超微粒子を光学的に検出・計数します。世界中の数百の研究ステーションで実績があり、屋内・屋外の総粒子濃度モニターとして、また Airmodus A-SMPS の標準 CPC 検出器として CEN/TS 17434 に準拠
した粒径分布測定に使用できます。
主な機能
- ACTRIS ホワイトリスト参照製品
- 10 nm における高精度の粒子計数
- 測定の透明性を確保する完全オープンな較正アルゴリズム
ENVEA
サイズ: 3 nm - 2,500 nm
... を目的に設計されたモジュール式の凝縮粒子計数器プラットフォームです。単一の
ハードウェアで複数の校正やカットオフ、標準化されたアクセサリをサポートし、ネットワーク展開や保守を簡素化します。
特長と利点
- モジュラー設計:UF、CEN、HF、PMP バリアント
- 動作流体:n‑ブタノール(>99.5%)またはプロピレングリコール
- トレーサビリティ確保のためのオープン校正アルゴリズム
- タッチスクリーン操作と
ENVEA
... 500,000個/cm³まで計数
全てのAirmodus CPCの共通機能
- 使いやすいタッチスクリーンインターフェース
- 完全に透明なアルゴリズム
- アナログ入出力
- 高度なパルス診断機能
- BlockSafeTM 浸水防止機構
- ログ取得用ソフトウェア付属
< ...
ENVEA