MITUTOYO/ミツトヨの視覚測定システム

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視覚測定機
視覚測定機
QI series

... ワンクリックで 測定できる、究極のシンプル操作。 非接触式二次元画像計測 シス テムは、二次元画像計測器の新しい概念をもたらします。 非接触二次元画像計測 シス テムです。 測定効率を向上させるユニークな機能を搭載しています。 を含みます。 - 大きな焦点深度と広い視野。 - ダブルテレセントリック光学系 - ...

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MITUTOYO/ミツトヨ
視覚測定機
視覚測定機
Quick Scope QS-L

... この手動式画像 測定 シス テムは、さまざまなワークピースに使用できる優れた表面観察 シス テムです。 クイックスコープには、以下のようなメリットがあります: -0.1μmの分解能と150mmのZ軸範囲。 -パワーズームにより、倍率の変更が簡単にできます。 -ワークに合わせて照明を変更できるファインイルミネーション機能。 - ステージにクイックリリース機構を搭載し、粗動と微動を瞬時に切り替えることができます。 -クイックナビゲーション機能により、繰り返し 測定が可能です。 -Z軸のモーター駆動により、高速かつ ...

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MITUTOYO/ミツトヨ
視覚測定機
視覚測定機
QV ACTIVE

... このCNC画像計測 シス テムは、高品質のズームレンズの柔軟性と、最新のデジタルカラーカメラのスピードを組み合わせたもので、以下のような利点があります。 最新のデジタルカラーカメラのスピードを兼ね備え、次のようなメリットがあります。 - プログラム可能なLED ステージライトおよび同軸ライト - プログラム可能な4象限LEDリングライト - 高解像度・高速CMOSカラーカメラ - レンズ交換可能な高品位7段ズーム光学系 - ...

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粗度測定システム
粗度測定システム
Quick Vision WLI

... - ビジョン シス テムと白色光干渉計(WLI)による非接触 測定。 - ビジョンセンサによる簡単なアライメントと位置決め - ビジョン シス テムによるQVPAKのフル機能 - 表面粗さ解析などの高解像度トポグラフィ評価のためのWLI シス テムによる機能強化。 ...

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視覚測定機
視覚測定機
Quick Vision

... StrobeSnap」により、高スループットと高精度を両立した計測を実現しています。 測定位置の連続性にかかわらず、ほとんどの 測定サンプルにおいて、当社従来方式と比較して 測定時間を約35~45%短縮することが可能です。 STREAM機能は、カメラの動きとストロボの光が同期したノンストップ 測定により、驚異的な高スループットを実現します。以下の 測定概念イメージのように、連続した素子 測定を行うため、StrobeSnapよりも 測定時間を短縮することが可能です。 -「StrobeSnap」機能を標準搭載し、高速計測 ...

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視覚測定システム
視覚測定システム
Quick Vision ULTRA

... このCNC画像 測定 シス テムは、超高精度を実現します。 クイックビジョンULTRAは以下のメリットを提供します: - 高精度エアベアリングリニアガイド シス テムにより、軸方向移動の真直度が最大化されます。 - 地下11mの超精密施設で製造された高分解能(0.01μm)スケールを全軸に使用。 - スケールは熱膨張係数がほぼゼロのガラス製で、温度変化による 測定精度の変動が最小限に抑えられています。 ...

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形状測定システム
形状測定システム
UVS2 series

... UMAP (Ultrasonic Micro and Accurate Probe) はマイクロ形状 測定 シス テムです。 UMAPは以下の利点を提供します: - 高精度接触 測定と非接触 測定の2つの機能を1台で実現。 - 接触式(マイクロスタイラスUMAPプローブ)と非接触式(ビジョンプローブ)の 測定プローブを搭載。 搭載。 ...

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