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... - すべての硬質磁性材料の測定（AlNiCo、フェライト、SmCo、NdFeB、プラスチック複合材） - 一定の磁束変化d/dtでの測定 - J補償付き周辺コイル、磁極または磁場コイルを使用した測定 - 200℃までの高温での測定 - 完全コンピュータ制御の測定システム - 測定中のヒステリシスをリアルタイムで表示 - BROCKHAUS® MAG Expert ソフトウェアによる測定、表示、 QMシステムへの統合 - Windowsデスクトップ 動作原理 硬質磁性材料の磁気特性の測定IEC ...
... - あらゆる磁性材料の測定（硬磁性AlNiCo、フェライト、SmCo、NdFeB、プラスチック複合材、軟磁性：電気鋼、フェライトなど） - 一定の磁束変化d/dtまたは正弦波分極による測定 - J補償周辺コイル、ポールコイル、フィールドコイル、ストリップ測定コイル、リングコアセンサー、パンチングパーツセンサー、エプスタインフレーム、シート測定コイルによる測定 - 200℃までの高温での測定 - 完全コンピュータ制御の測定システム - 測定プロセス中のヒステリシスをリアルタイムで表示 - ...
... - 電磁鋼板の軟磁性特性のモニタリングと文書化 - 継続的なインライン品質管理 - 比ヒステリシス損失と誘導ピークのインライン測定 - HとJの並列データ収集システム - 完全同時測定プロセス - 高い再現性と測定精度 - プログラム制御操作 - BROCKHAUS® EBA-Expertソフトウェアによる測定、表示、 QMシステムへの統合 動作原理 測定システムは、必要なコイル（励磁コイル、二次コイル、接線磁場コイル）を備えたダブルヨークシステムと測定・処理ユニットで構成されています。ダブルヨークシステムは生産ラインに設置されます。測定される材料はこのユニットに供給されます。 測定値と文書化された値を1つの電気スチールコイルに明確に割り当てるために、測定システムは材料の識別データを管理することができます。測定開始と終了のデジタル信号は、生産中の材料を追跡するために、測定システム自体から処理することができます。 ヒステリシスロスの計算。鋼帯全長にわたる値のグラフィック表示。公称値との比較。許容範囲外の値はすべて統計的異常値として保存されます。 操作ソフトウェアにより、任意の数の測定プログラムにパラメータを設定でき、あらゆるタイプの鋼板を校正できます。このソフトウェアにより、品質データの文書化が迅速に行えます。 ...
SG3000は、フルサイズの自動車用アンテナ測定やOTAテスト用のシステムです。お客様のニーズや設置条件に合わせてシステム構成を変更することができます。固定式（Fモデル）または移動式（Mモデル）の異なるサイズのアーチを設計することができますので、電波暗室に常設することも、電波暗室に移動させることも可能です。被測定物の回転を高精度な位置決めシステムで制御することで、離散的または連続的なリアルタイム測定が可能です。
... RDG4000 TRは、「音響複屈折」によって鉄道車輪の内部残留応力を測定するジラルドーニのソリューションです。実際、この測定は、超音波の伝達速度が試験された車輪部分の異なる応力状態にどのように影響されるかを示します。 この装置は、液体を混濁させることなく作動するという利点を持つEMATプローブを使用しています。 EMATプローブは、2つの等しいトランスデューサを標準装備しており、2つの垂直面に直線偏光を持つ横波を発生するように配置されている： ビーム：Aビーム：水平偏波の伝搬方向は車輪の転動面に平行； ...
... Hinds™ Instruments Exicor® OIAは、レンズ、平行平面光学系、曲面光学系を法線および斜めの入射角で評価するためのプレミア複屈折測定システムです。このシステムは、Hinds Instruments社の受賞歴のある光弾性変調器（PEM）ベースのExicor複屈折測定技術に基づいて構築されています。この次世代複屈折測定システムは、次世代リソグラフィーレンズ、レンズブランク、高価な光学部品の分析・開発において、業界に新しい機能を提供しています。 このシステムは、光ビームの偏光状態を変調するためにPEMを利用し、光学部品がどのように偏光状態を変化させたかを測定するために高度な検出および復調電子機器を使用します。その結果、ある偏光状態に対する別の偏光状態の90°の光学的遅れを測定することができる。複屈折とFast ...
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... オプション 反射防止膜(ARC)-カスタム 磁界対応(MFC) 特殊周波数オプション(SFO) 非干渉オプション（NIO） -NIO-1、I/FS50に標準装備 -NIO-2、Iシリーズ光学系にカスタム対応 真空対応ヘッドのカスタマイズ ハインズインスツルメンツは、偏光変調の原理に基づいた技術の開発で世界をリードしています。光弾性変調器（PEM）は、多様なフォトニクス・アプリケーションにおける重要なコンポーネントです。そのため、ハインズ社は、重要な偏光ベースの測定に幅広く貢献しています。 当社の光弾性変調器の動作原理、ユニークな機能、動作モードについては、こちらをご覧ください。 ...
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... デュアルPEMシステムは、リアルタイムの偏光解析測定が可能です。1台のPEMを使用する場合、最初の測定の後、試料を45°回転させて2回の測定を行う必要があります。しかし、2つのPEMを互いに対して45°に取り付けて使用すれば、リアルタイムで測定することができます。 ハインズ社では、異なる有効口径や異なるスペクトル領域の測定を必要とするアプリケーション向けに、4種類の標準的なデュアルPEMの選択肢を用意しています。 I/FS50-60（およびI/FS50-55、I/FS47-50）システムは、シリーズIのPEMを使用しています。シリーズlのPEMは矩形形状の光学系を持ち、実質的にPEMの有効口径を制限しています。これらの小型システムは、光源のビーム径が小さい場合に実用的です。したがって、デュアルPEMの用途が1つのレーザーのみで構成される光源を含む場合、これは実行可能な選択肢となります。 II/FS20-23とII/FS42-47システムは、光学材料として高品質の石英を採用し、170nmから2.6μmまでの透過率を実現しています。両機種とも、可視光と近赤外光のスペクトル領域で完全に機能します。しかし、II/FS20-23方式は開口部が大きいというメリットがあります。これは、光源のビーム径が大きい場合や、2つ以上の光源を収容する場合に特に有効です。このデュアル型電解質膜は、トカマクプラズマに入射した重水素原子のビームから放射される光の直線成分の向きを測定するストークス偏光計システムに典型的に使用されています。II/42-47はストークス偏光計測にも使用され、よりコンパクトな光学ヘッド構成を実現しています。 ...
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... PolaWiseTMは、光源および光学材料のすべての偏光関連特性を正確に評価するための高度な偏光測定システムです。 General Photonicsの特許取得済みの光磁気偏光生成および解析技術に基づくPSGA-101-Aは、光ファイバアプリケーション向けに特別に設計されており、偏光状態生成（PSG）、偏光状態解析（PSA）、偏光などの複数の機能を簡単に達成できます。 消光比（PER）測定、偏光依存損失（PDL）測定、および偏光モード分散（PMD）測定。 この機器のもう一つの魅力的な特徴は、大型フリップトップLCDグラフィックディスプレイデザインです。コンパクトでポータブルな筐体に広い表示領域を使用できる業界初です。 ...
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