方向の測定システム

... シンプルな操作性 PlanAssistantを使えば、誰でもプロフェッショナルに測量や杭打ちをすることができます。簡単な説明で、測量の予備知識は必要ありません。 グラフィカルな表示 原則的に、レイアウトとポイントは常にグラフィカルに表示されます。これにより、現場でのオリエンテーションを軽減することができます。 PCインターフェース 最大40,000の測定値を含むレイアウトを、各PCから瞬時にダウンロードすることができます。また、測定したレイアウトをアップロードして、さらに加工することもできます。PlanAssistantは、レイアウトの手動入力だけでなく、測地点の使用もサポートしています。 ビルトインCAD機能 円弧、円、直線、角度、接線、平行線、交点などをその場で作図できる実用的なCAD機能を内蔵しています。 自由な配置 PlanAssistantのフリーステーティング機能により、トータルステーションは常に最適な位置にセットアップすることができます。基準点の上に正確に設置する必要はもうありません。 PlanAssistantは、シリアルインターフェースを備えていれば、様々なメーカーのトータルステーションと互換性があります。アスクアンス ...

広視野と長作動距離で、高さや段差のあるサンプルの測定に適したエントリーモデルです。 広視野による多彩な測定用途 広視野測定が可能な3つのステージサイズをラインアップ。タッチプローブの装着も可能で、さまざまな検査や品質管理に威力を発揮します。 長作動距離と長Z軸ストローク 全倍率範囲で73.5mmの長作動距離と200mmのZ軸ストロークを実現。大きな段差や高さのある被検物測定に適しています。 測定用途に応じたオプション レーザーAFやタッチプローブなど、測定用途に応じたオプションを組み合わせてお使いいただけます。

明視野とコンフォーカルの2系統の光学系を搭載。二次元測定に加えて、高速・高精度な視野内一括高さ測定を実現します。 二次元測定と高さ測定が可能な1台2役の高機能システム 明視野画像による二次元測定に加えて、コンフォーカル光学系による視野内一括高さ測定を実現。明視野測定では検出が難しいサンプルも、コンフォーカル光学系なら高速/高精度な測定が可能です。 微細配線パターンの測定 明視野では難しい輝度差の激しいサンプルでも、形状と高さを正確に捉えて検出できます。 プローブカードの測定 プローブカードの微細なコンタクト部分のXYZ座標を、視野内一括測定します。 高精度プリント基板パターンの測定 測定視野内の高反射面と低反射面のエッジが正確に検出できます。

明視野とコンフォーカルの2系統の光学系を搭載。二次元測定に加えて、高速・高精度な視野内一括高さ測定を実現します。 二次元測定と高さ測定が可能な1台2役の高機能システム 明視野画像による二次元測定に加えて、コンフォーカル光学系による視野内一括高さ測定を実現。明視野測定では検出が難しいサンプルも、コンフォーカル光学系なら高速/高精度な測定が可能です。 微細配線パターンの測定 明視野では難しい輝度差の激しいサンプルでも、形状と高さを正確に捉えて検出できます。 プローブカードの測定 プローブカードの微細なコンタクト部分のXYZ座標を、視野内一括測定します。 高精度プリント基板パターンの測定 測定視野内の高反射面と低反射面のエッジが正確に検出できます。

... 複雑な形状を従来の三次元測定機よりも高速に処理するための高速非接触計測・検査プラットフォーム。 精度の向上 ZeroTouchは、独自の5軸アーキテクチャとクラス最高のセンサーを採用し、測定品質を向上させています。 処理能力の向上 ZeroTouchは、複雑な寸法測定を数分でキャプチャします。 生産性の向上 ZeroTouchは、複数の測定を同時に迅速に実行します。 堅牢で非接触式の計測プラットフォームであるZeroTouchは、何百万ものデータポイントを迅速に取得して高精度の3D点群を作成し、複雑な部品形状を迅速に計測し、最も複雑な部品を低GRRで精密に検査することを可能にします。 スタックエラーの許容範囲の最小化 ZeroTouch独自の平面エアベアリング設計により、公差スタックエラーを最小限に抑えます。精密ステージの非常に滑らかで高速な動きを提供することで、このゼロに近い摩擦設計は、より安定した性能を保証し、機械的摩耗を最小限に抑え、GRRを向上させます。 高度なアナリティクスの統合 業界で実績のある定評ある解析ソフトウェアを使用して、点群スキャンを公称CADモデルやGD&T制御と比較することで、部品を解析することができます。統計的工程管理(SPC)データは、ばらつきやスクラップを削減するための警告を促すことができます。 グラフィカルな部品検査計画 グラフィカルなメニュー駆動の部品検査計画ツールにより、専門的なプログラミングが不要になります。計画は、MESからプログラムを呼び出すか、オプションのバーコードリーダーを介して簡単に起動することができます。 特徴とメリット - ...

... Hinds™ Instruments Exicor® OIAは、レンズ、平行平面光学系、曲面光学系を法線および斜めの入射角で評価するためのプレミア複屈折測定システムです。このシステムは、Hinds Instruments社の受賞歴のある光弾性変調器（PEM）ベースのExicor複屈折測定技術に基づいて構築されています。この次世代複屈折測定システムは、次世代リソグラフィーレンズ、レンズブランク、高価な光学部品の分析・開発において、業界に新しい機能を提供しています。 このシステムは、光ビームの偏光状態を変調するためにPEMを利用し、光学部品がどのように偏光状態を変化させたかを測定するために高度な検出および復調電子機器を使用します。その結果、ある偏光状態に対する別の偏光状態の90°の光学的遅れを測定することができる。複屈折とFast ...

... YX-2シリーズX 線配向装置は、X 線回折原理に適用され、光、機械、電気を設計して自然と人工結晶（サファイア、圧電結晶、光学結晶、半導体結晶）の表面を高速で測定できる1つの精密単位に組み合わせます。 カッターは、水晶振動子の配向切削にも使用できます。 今、この装置は、水晶部品の製造に必要な機器となっています。 それは既に広く研究ラボ、学校、会社に特に適した結晶材料の企業の研究と製造に使用されています。 特徴： X 線結晶配向装置は、単純に動作し、あまりにも専門的な認識や技術を必要としない、観察が容易であるデジタルディスプレイの測定角度。 ...

... この装置は、シリコン単結晶バーの配向測定に特別に使用され、YX-5Z/6Zおよびマルチライン切断装置とのマッチングを使用することができます。 その最大の特徴は、配向測定後に水晶バーのたわみ角、X & Y 値を直接計算でき、部分ウェーハの角度値を正確に測定できることです。 構造： YX-6Dシリコン単結晶配向装置は、X 線コントローラ、角度装置、レコーダー、電磁光シャッター、マイクロコントロール、キーボード、入力情報、画面メニュー表示、データ印刷、角度表示、ピーク値強度計などから構成されています。 ...

... この装置は、シリコン単結晶バーの配向測定に特別に使用され、YX-5Z/6Zおよびマルチライン切断装置とのマッチングを使用することができます。 その最大の特徴は、配向測定後に水晶バーのたわみ角、X & Y 値を直接計算でき、部分ウェーハの角度値を正確に測定できることです。 構造： YX-5Dシリコン単結晶配向装置は、X 線コントローラ、角度装置、レコーダー、電磁光シャッター、マイクロコントロール、キーボード、入力情報、画面メニュー表示、データ印刷、角度表示、ピーク値強度計などから構成されています。 ...