フィルム用測定システム

8 社 | 17
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
光学測定システム
光学測定システム
C12562-04

... 光学式ナノゲージ膜厚測定装置 C12562 は、必要な場所に簡単に設置できるように設計された、コンパクトで省スペースの非接触膜厚測定装置です。半導体業界ではスルーシリコン化の進展によりシリコンの厚み測定が不可欠となっており、またフィルム製造業界では、製品仕様に合わせて接着層フィルムの薄型化が進んでいます。このような業界では、1μmから300μmまでの厚さ測定に、より高い精度が求められています。C12562は、膜厚500nmから300μmまでの幅広い膜厚範囲で、薄膜コーティング膜やフィルム基材の厚さだけでなく、全体の厚さも含めて正確に測定することができます。また、C12562は100Hzまでの高速測定が可能なので、高速生産ラインでの測定にも最適です。 特徴 - ...

その他の商品を見る
HAMAMATSU
光学測定システム
光学測定システム
C10178-03E

... 光ナノゲージ膜厚測定装置C10178は、分光干渉法を利用した非接触膜厚測定装置です。スペクトル干渉法により、高感度・高精度で迅速に膜厚を測定します。検出器にはマルチチャンネル分光器PMAを使用しており、量子収率、反射率、透過・吸光率など様々な測定を行いながら、各種光学フィルターやコーティング膜などの膜厚測定も同時に行うことができます。 特徴 - 高速・高精度(測定膜厚範囲(ガラス):150nm~50μm - リアルタイム測定 - 変動するフィルムを精密に測定 - ...

その他の商品を見る
HAMAMATSU
厚さ測定システム
厚さ測定システム
C11295

... 多点ナノゲージ膜厚測定装置C11295は、分光干渉法を利用した膜厚測定装置です。半導体製造工程での膜厚測定や、半導体製造装置に搭載されるAPCやフィルムの品質管理用に設計されています。リアルタイムでのマルチチャンネル測定が可能で、フィルム表面のマルチチャンネル測定と多点測定を同時に行うことができます。同時に反射率(透過率)や物体の色、それらの経時変化も測定できます。 特徴 - 最大15点までの同時膜厚測定が可能 - リファレンスフリー動作 - 光量変動補正による長期安定測定 - ...

その他の商品を見る
HAMAMATSU
ビデオ測定システム
ビデオ測定システム
iNEXIV VMA-6555

... InExiv VMAシリーズ CNCビデオ測定システムは、大きな視野と長い作業距離、広いXYZストロークで、さまざまな3Dコンポーネントの自動測定に究極の使いやすさを提供します。 大型サンプル(450 x 400 x 200 mm以上)や複数部品の同時測定に適しています。ハイエンドモデルと同じ強力な鋳鉄製ボディとダイレクトベアリングによる高いコストパフォーマンス。VMA-6555Vはビデオ測定用で、VMA-6555はタッチプローブ対応です。 アプリケーション ...

その他の商品を見る
Nikon Metrology
ビデオ測定システム
ビデオ測定システム
NEXIV VMZ-R3020

... 各試料の倍率、AF、照明条件を細かく調整できます。 VMZ-R3020は、機械部品、成形部品、高密度 PCBなどの小型部品の測定に適した300 x 200mmストロークを提供します。 主な利点 6 種類の光学ズームヘッド 0.1mm 透明層 8セグメントリング照明の検出 3つの入射角度を有する 高測定精度 高速スループット15 倍高速ズーム アプリケーション 表面分析、表面検査 プラスチック製造、 金属製造 割れおよび故障分析 I マイクロエレクトロニクス、オプ トエレクトロニクス、テレコム・エレクトロニクス、アンテナ、望遠鏡オプティクス ...

その他の商品を見る
Nikon Metrology
アングル測定システム
アングル測定システム
NEXIV VMR-H3030

... NEXIV VMZ-H3030は、NEXIVシリーズの最高精度で測定し、高度な操作性と性能を実現します。 主な利点 5 種類の光学ズームシステムの 8セグメントリングイルミネーター 3 入射角 を使いやすく、合理化されたソフトウェア 最高の測定精度の 高度な使いやすさと性能. ...

その他の商品を見る
Nikon Metrology
ビデオ測定システム
ビデオ測定システム
Checkmaster1512

... 大型CNCブリッジ型ビデオ測定機 アプリケーション。 チェックマスターシリーズは自動的に大きな旅行は、2D座標測定のためのすべてのアプリケーション分野に適しています。3D、また。それは LCD、LED 表示、タッチ画面、携帯電話のタブレット、大きいガラス プロダクト、自動車部品、大きい PCB、フィルム、テレビ、ハードウェア、型、器械、プラスチック、精密電子工学、精密機械類で等広く利用されています。 特徴。 高精度な大理石の台座と柱で高い安定性と剛性を実現■ PMI高精度リニアガイドとTBI研削グレードボールねじ パナソニック ...

厚さ測定システム
厚さ測定システム
0 - 2mm(6mm,12mm) | 0.1 µm | CHY-CB

... 用途 — フィルムおよびフォイル試験、紙および板紙試験、繊維および不織布試験、金属板試験、食品包装 試験特性 — 厚さ 試験方法 — テーブル型接触方法 規格 — ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702 特長 — 自動リフティング押 し足 — リアルタイム表示テスト結果 — 最大値、最小値、平均値 — ...

厚さ測定システム
厚さ測定システム
C640

... C640 厚さ試験機は、フィルム、シーティング、紙、段ボール、織物、不織布、固体断熱材などの厚さ測定に使用できる高精度の機械的接触法の厚さ試験機です。オートサンプラーは、複数の連続ポイントの厚さ測定のために設計されているオプションです。 プロフェッショナル 革新的な研究開発によって、Labthink C640 の厚さのテスターは科学的な構造および専門の制御技術によって支えられる高精度の変位センサーを使用します、それは C640 を安定性、反復性注1 および正確さで非常に改善しました。 - ...

皮膜厚測定システム
皮膜厚測定システム
NIRONE COATING

... NIROne - 私たちの近赤外線の新しいセンサー - 近赤外線領域 リアルタイムで接触なしの連続オンライン測定 EDIT PROCESS CONTROLは、産業界向けの測定器・試作機の設計・製造・販売を行っています。 当社の新しいNIROneセンサーは、水分、タンパク質、脂肪などの成分の信頼性の高い測定を確実にするための最新技術を採用しています。 次世代のPbSセンサーの使用と規制(ペルチェ)の改善により、測定の再現性が向上しました。 自動校正によるランプの磨耗を自動補正することで、定期的に基準をチェックすることなく、長期間にわたって測定を安定させることができます。 オプションで赤外線(非接触)による温度測定も可能です。 可視測定スポットのØ、製品の存在の自動検出、または装置に組み込まれた厳しい環境下での冷却プレートなど、その他の新機能により、装置の設置が容易になり、装置の使用が最適化されます。 新しいセンサーの利点 - ...

厚さ測定システム
厚さ測定システム
SpectraFilm™

... Spectra Film™ フィルム測定システム SpectraFilm™ F1フィルム測定システムは、幅広いフィルム層に対して高精度の薄膜測定を提供することにより、7nm未満のロジックおよび最先端のメモリ設計ノードで厳しいプロセス許容誤差を達成します。 高輝度光源は、バンドギャップを正確に測定するために必要な信号を提供し、電子テストよりも数週間前に電気的性能についての洞察を提供する分光楕円法技術を駆動します。 新しいFoG™(フィルムオングレーティング)アルゴリズムは、装置のような格子構造でフィルム測定を可能にすることで、測定とデバイスとの相関性をさらに高めます。 ...

厚さ測定システム
厚さ測定システム
CoatMaster

... コーティング厚さ測定システム CoatMaster 高度な熱光学法の操作 CoatMasterは、最初にコーティング層をウォームアップし、その結果として生じる表面温度冷却プロセスを記録します。 冷却プロセスは、コーティングの厚さおよび熱特性に依存する。 CoatMasterのアルゴリズムは、表面上の動的冷却プロセスを解析し、コーティングの厚さおよびその他の特性を返します。 すべてが完全に非破壊的で、テストされた表面に直接接触することなく起こります。 利点コーティング ラインおよび実験室でのコーティングプロセス中の自動測定 Ø2-50mmの測定点で5 ...

強度測定システム
強度測定システム
CFT-6

... ほとんどの測定ツールは信頼性が低く、一部は最大 30% の精度が不正確であることが証明されています。 より高い精度と使いやすさの必要性により、ランテックはCFTを開発しました。 CFT-5と構造的に同様に、CFT-6は読み取りの変動を最小限に抑え、負荷の上部、中央、下部での動作が容易です。 ...