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... 高スループット 3D 計測スキャンによる安全で収益性の高い生産の実現 当社の Phoenix V|tome|x C 3D CT スキャンソリューションは、非破壊試験 (NTD) および鋳造や航空宇宙用途の品質保証ラボ向けに特別に設計されたコンパクトな 450 kV CT システムを提供し、半自動非破壊試験と 3D 計測を組み合わせられる柔軟性を備えています。 簡単なロードツール、バーコードリーダーなどの低メンテナンスで生産指向の設計機能、および新しいワンボタン | CT 自動化機能により、Phoenix ...
... 3D Metrology 2.0 のワークフローと精度の向上 Inspection Technologies の Phoenix V|tome|x M プレミアムパフォーマンス CT スキャナーでのみ使用できる True|position 技術は、測定位置を、指定された精度で、特許取得済みの革新的な Ruby|plate 校正ファントムにより検証できるすべての位置に拡張します。最大プロービング長 130 mm でも校正の不確実性が 1 マイクロメートル未満である独自のファントムのおかげで、VDI ...
... Phoenix Nanotom® M は、科学・産業用コンピューター断層撮影 (microCT と nanoCT®) および 3D 計測用のナノフォーカス X 線 CT システムです。 このシステムは、幅広いサンプルと応用範囲で独自の空間解像度とコントラスト解像度を実現します。 CT スキャン、再構成、分析プロセスの完全に自動化された実行により、その使いやすさと高速で信頼性の高い CT 結果が保証されます。 複雑な物体の正確で再現性のある 3D 測定と、最初の品目検査レポートの 1 時間以内の自動生成が可能です。 製品の特長 •最大 ...
... FF20 CTは、研究開発、欠陥解析、またはCT計測のためのマイクロCTシステムです。エレクトロニクス産業、材料科学、その他の研究分野において、非常に小さな部品や物体の検査用に設計されています。 • ラボアプリケーションにおける正確な材料分析 • 190 kV透過管による150 nmまでの2次元詳細視認性 • 花崗岩の土台による精密な操作と温度安定性 • タッチスクリーンによる直感的なGeminyグラフィカル・ユーザー・インターフェース • オプションでMPESD = 3.9 µm ...
... デュアルX線源システムを搭載したnanoVoxel-5000は、総合的な検査性能を持ち、多様化する試料の検査要求に対応するためにX線源を自動で切り替えます。 ボタン1つでX線源を切り替え 優れた検査性能と柔軟な設定 スパイラル、オフセット、限定角度など多彩なスキャンモード 優れた拡張性 ...
... 産業用CTシステムexaCT Lは、CT解析の全工程を簡素化し、費用対効果に優れた完全自動化ワークフローを提供します。高速検出器と組み合わせた高いX線性能により、exaCT L CTシステムは非常に短時間でコンポーネントの測定と検査を行うことが可能です。 直感的なユーザーガイダンスにより、短期間のトレーニングで正確な測定結果が得られる産業用CTです。exaCT Lは自分自身で考えることができます：測定パラメータは、CTシステムによって自動的に最適化されます。exaCT Lは、このクラスでは最もコンパクトな産業用CTスキャナーのひとつです。独立した3軸を持ち、優れたX線性能を発揮します。 ハードウェアとソフトウェアは、生産ラインへの自動統合の可能性を提供し、インダストリー4.0をテーマとした質問に対する市場主導の答えを提供します。WENZELは、exaCT ...
WENZEL Group
... 空港の預け荷物検査用に設計された、爆発物やその他の危険・禁止物質を自動検出するデュアルエネルギーCTトモグラフ。XT2100HSは国際基準を満たし上回る性能を有し、預け荷物検査の認証済みソリューションです。
主な機能
- 爆発物やその他の危険・禁止物質を自動検出するデュアルエネルギーCTトモグラフ
- 空港の預け荷物検査で認証済み
- 処理能力：1800個/時
- 画像の三方式表示：2D、3D、断面
- ECAC
... 概要
Omronの自動検査機能は、サブミクロンX線CTイメージングと定量的な計測を組み合わせ、半導体の量産環境におけるプロセス品質と歩留まり管理を実現します。
サブタイトル
レシピベースのワークフローと定量計測を備えた、半導体量産向けの高速自動X線CT検査システムです。
市場動向
- パッケージの小型化
- 積層による高密度化
- 複数デバイスの組み合わせ（SiP）
技術
Omronの3D-CTプラットフォームは以下を提供します：
- プロセス制御のための高速かつ定量的な計測
- サブミクロンの拡大での安定したイメージング
- 再現性のある結果を得るためのレシピベースの自動検査
自動検査と計測
ハイボリューム生産を支援し、手作業による取り扱いを削減するためのインライン自動検査・計測ワークフロー向けに設計されています。
用途
パッケージ検証、欠陥検出、寸法管理など、半導体の量産ラインでの検査と計測を対象としています。
仕様 ...