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... resolução, como também aumentam a produtividade ao inspecionar amostras com 8"/200 mm de diâmetro.. A iluminação baseia-se na mais moderna tecnologia de LED e é totalmente integrada ao microscópio. A baixa irradiação ...
Leica Microsystems GmbH
... A investigação de várias amostras com múltiplas soluções de aquisição de imagens pode ser complicada, quando cada uma é dedicada a uma determinada tarefa de análise de falhas e pesquisa e desenvolvimento. O microscópio ...
Leica Microsystems GmbH
... inspeção de amostras grandes, em campo claro, oblíquo – ou com luz polarizada. Toda a iluminação de luz refletida é realizada com LEDs, o que permite a inspeção com diferentes ângulos de iluminação, especialmente adequada ...
Leica Microsystems GmbH
... fácil colocação mesmo de amostras enormes e pesadas. • - Trabalhe com amostras que pesam até 30 kg. Veja mais da sua amostra Você precisa trabalhar com amostras grandes ...
Leica Microsystems GmbH
Ampliação : 20 unit
Comprimento: 304 mm
Largura: 210 mm
... botão Snap no suporte para obter a imagem. É tão fácil quanto isso. Pode controlar o microscópio e a câmara acoplada sem sequer mudar de posição, focando sempre a sua amostra. Ergonomia inteligente para ...
... todos os tipos de amostras. Um detetor de alta matriz permite alta resolução de detalhes finos, mesmo com volumes de imagem relativamente grandes. O sistema possui um grande campo de visão, montagem ...
Resolução espacial: 0,2 µm
Peso: 9 kg
Comprimento: 587 mm
... nossas câmeras para microscopia continuam a oferecer tecnologias inovadoras e desempenho confiáveis para atender a uma vasta gama de aplicações industriais. Escolha entre uma ampla variedade de modelos que se acoplam a microscópios ...
Resolução espacial: 1 µm
... Os sistemas de microscópio MX63 e MX63L são otimizados para inspeções de alta qualidade de wafers de até 300 mm, visores planos, placas de circuito impresso e outras amostras grandes. Seu design modular ...
... Os microscópios invertidos são compactos, duráveis e utilizados para altas necessidades de ampliação. São ideais para a análise de amostras de montagem com superfícies de amostras planas e estão equipados ...
... completa de 300 mm x 300 mm e pode inspeccionar eficientemente uma pastilha inteira de 300 mm, sem qualquer necessidade de um deslocamento incómodo da amostra. Principais Características Técnicas: scanner 2D de orientação ...
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