Microscópio AFM NX20

para pesquisapara medição da rugosidade de superfíciesmodular

Park NX20 é uma plataforma AFM para todos os Laboratórios de Investigação que lidam com amostras até 200mm. Desde aplicações académicas via Semicondutores e Análise de Falhas, NX20 oferece características únicas, tais como medições precisas e reprodutíveis com sistema de varrimento XY desacoplado, medições da rugosidade superficial com Detector de Baixo Ruído Z, Modo Verdadeiro NãoContact™ assegurando a nitidez da ponta para precisão da rugosidade superficial, vasta gama de modos de varrimento de alta resolução e design modular. O NX20 é amplamente utilizado na indústria de semicondutores e discos rígidos pela sua precisão de dados e medições reprodutíveis melhorando a eficiência analítica dos padrões de produtividade. A versão 300mm - o Park NX20 300mm suporta uma gama de viagem motorizada completa de 300 mm x 300 mm e pode inspeccionar eficientemente uma pastilha inteira de 300 mm, sem qualquer necessidade de um deslocamento incómodo da amostra. Principais Características Técnicas: scanner 2D de orientação flexível com 100 µm x 100 µm de alcance de varrimento * Scanner Z de alta velocidade com 15 µm de alcance de varrimento * Sensor de posição XYZ de baixo ruído * Estágio de amostragem XY motorizado com codificadores opcionais * Automação passo-a-passo * Suporte de amostragem acessível * Ranhura de expansão para modos e opções SPM avançados * Óptica On-Axis directa de alta potência com iluminação LED integrada * Acoplamento automático por cabeça SLD deslizante para ligação * Estágio Z motorizado alinhado verticalmente e Estágio de focagem * Electrónica digital de alta velocidade 24-bit