e encontre todos os seus clientes num mesmo sítio durante todo o ano
Seja um expositor
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Ampliação : 3.000.000 unit
Resolução espacial: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... disso, o design exclusivo do sistema ótico tem uma capacidade de EELS para análise avançada de materiais. O SU9000 é o novo SEM premium da HITACHI. Apresenta uma ótica de electrões única, com a amostra posicionada dentro ...
Resolução espacial: 1 µm
... Os sistemas de microscópio MX63 e MX63L são otimizados para inspeções de alta qualidade de wafers de até 300 mm, visores planos, placas de circuito impresso e outras amostras grandes. Seu design modular ...
... -se na mais moderna tecnologia de LED e é totalmente integrada ao microscópio. A baixa irradiação de calor e a integração no suporte garantem um ótimo fluxo de ar ao redor do microscópio. A longa duração ...
... -se na mais moderna tecnologia de LED e é totalmente integrada no microscópio. A baixa irradiação de calor e a integração no suporte garantem um ótimo fluxo de ar ao redor do microscópio. A longa duração ...
Ampliação : 1 unit - 150 unit
... pesadas ou de trabalhar em combinação com o microscópio confocal de varrimento a laser ZEISS LSM para materiais - o design robusto da coluna proporciona uma estabilidade fiável e evita vibrações As inspecções de wafer ...
Ampliação : 50 unit
Peso: 45 kg
... Nikon, L200NA é uma gama de microscópios semicondutores ideal para inspecção de circuitos integrados (IC), ecrãs planos (FPD), dispositivos electrónicos de integração em grande escala (LSI) e muitas mais aplicações. Microscópios ...
Nikon Metrology
Resolução espacial: 5 µm
... resolução e 3 eixos lineares com rolamento de esferas de precisão Triax - Medições de baixo ruído até aos níveis de fA - Microscópio estereoscópico: 15x-100x de ampliação com grande campo de visão e camera-ready c-mount - ...
FORMFACTOR
... AUTO WAFER é uma linha de produtos desenvolvida para o controle de produção em linha de wafers colados. É compatível com sala limpa classe 10. A principal aplicação é a detecção de vazios, inclusões ...
Resolução espacial: 5 µm - 110 µm
... O menor AFM para integração personalizada Compacto Robusto Fácil de integrar A morfologia da superfície é uma propriedade importante para muitas superfícies de alta tecnologia com características que podem ir até alguns nanómetros ...
e encontre todos os seus clientes num mesmo sítio durante todo o ano
Seja um expositor
Poderia especificar?
Ajude-nos a melhorar o serviço que lhe prestamos:
restantes