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Aparelho de inspeção de semicondutores qualidade
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Características
- Aplicações
- de semicondutores
- Especificações
- qualidade
Descrição
As opções de metrologia complementares do CIMS foram concebidas para melhorar ainda mais as capacidades de inspeção de dispositivos semicondutores. Essas opções podem ser integradas no equipamento CIMS, proporcionando um novo nível de garantia de qualidade aos nossos clientes.
As opções adicionais do CIMS incluem capacidades únicas de metrologia 2D e 3D que permitem realizar medições avançadas durante o ciclo normal de inspeção. Isto elimina a necessidade de sistemas de metrologia dedicados fora de linha e encurta o ciclo de feedback do controlo de qualidade.
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Semiconductors Inspection and Metrology
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* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.
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