Espectrômetro infravermelho médio Scanning SFG

para pesquisa e desenvolvimentopara aplicações científicasde bancada

O espectrômetro SFG de varredura é um espectrômetro vibracional de geração de soma de frequências (SFG) de picosegundos projetado para investigação in situ de superfícies e interfaces. Ele utiliza um pulso IR médio de banda estreita cuja comprimento de onda é alterado ponto a ponto durante a medição, com o sinal SFG registrado por um fotomultiplicador com porta de tempo para alta sensibilidade e seletividade.

Vantagens

• Sensível e seletivo à orientação das moléculas na camada superficial
• Intrinsecamente específico para a superfície
• Seletivo para espécies adsorvidas
• Sensível a subcamadas de moléculas
• Aplicável a todas as interfaces acessíveis à luz
• Não destrutivo
• Capaz de alta resolução espectral e espacial

Aplicações

• Investigação de superfícies e interfaces de sólidos, líquidos, polímeros, membranas biológicas e outros sistemas
• Estudos de estrutura de superfície, composição química e orientação molecular
• Sensoriamento remoto em ambientes hostis
• Investigação de reações de superfície sob atmosfera real, catálise, dinâmica de superfície
• Estudos de crescimento epitaxial, eletroquímica, problemas materiais e ambientais

Espectroscopia vibracional de geração de soma de frequências

• A SFG-VS é um método poderoso e versátil para investigação in situ de superfícies e interfaces
• Combina um feixe de laser IR pulsado sintonizável com um feixe visível para produzir uma saída na frequência de soma
• Altamente específico para a superfície devido à quebra de simetria nas interfaces
• Fornece informações espectrais sobre transições vibracionais de superfície
• Permite a extração de informações detalhadas sobre a ordem e orientação de grupos moleculares na interface

Características e design do sistema

• Laser Nd:YAG bloqueado em modo de picosegundos e gerador paramétrico óptico em uma unidade
• Módulo de espectroscopia com detectores de sinal baseados em PMT, sistema de aquisição de dados e software dedicado LabView®
• Varredura rápida de comprimento de onda para acesso rápido a uma ampla faixa espectral
• Ampla região espectral: sintonização automática de 625 a 4300 cm⁻¹
• Alta resolução espectral (3 cm⁻¹)
• Ajuste fácil de ópticas de polarização
• Design de duas unidades: fonte de luz laser PT501 e módulo de espectroscopia
• Porta temporal no sistema de detecção reduz o ruído e permite operação em salas iluminadas
• Tamanho do ponto do feixe IR ajustável para evitar danos à amostra
• Interruptor de polarização motorizado para IR (padrão), VIS e SFG (opcional)
• Monitoramento contínuo de energia para normalização de espectros SFG
• Grande compartimento de amostra personalizável para várias extensões (por exemplo, calha de Langmuir-Blodgett, controle de temperatura/umidade)
• Todos os feixes pulsados de alta energia são enclausurados para segurança; a área de amostra tem uma cobertura especial

Modificações e opções

• Espectrômetro SFG de dupla ressonância: permite investigação do acoplamento de modos vibracionais a estados eletrônicos em uma superfície
• Espectrômetro SFG sensível à fase: permite a medição dos espectros complexos dos coeficientes de resposta não linear de superfície
• Feixe VIS de comprimento de onda único ou duplo: 532 nm e/ou 1064 nm
• Um ou dois canais de detecção: sinal principal e referência
• Opção de espectroscopia de superfície de geração de segunda harmônica
• Controle de polarização motorizado para feixes VIS e SFG
• Compartimento de amostra maior para acomodar a calha de Langmuir
• Medição simultânea da polarização s e p do sinal SFG

Controle de polarização

• Medição simultânea da polarização S e P no sistema de detecção dual
• Controle de polarização motorizado para feixes SFG, VIS e IR
• Mudança automática de polarização e atenuação de energia para medições sem abrir o espectrômetro

Acessórios

• Suporte de amostra de seis eixos
• Câmara de amostra selada com controle de temperatura
• Área de amostra maior para a calha de Langmuir
• Motorização do controle de polarização para feixes VIS e IR, analisador de polarização para o sinal SFG

Características / Especificações técnicas

• Faixa espectral: 625 – 4300 cm⁻¹ (Clássico e Dupla ressonância, VIS 532 nm); 1000 – 4300 cm⁻¹ (VIS 420–680 nm e Sensível à fase)
• Resolução espectral: < 3 cm⁻¹
• Método de aquisição de espectros: Varredura e varredura rápida de comprimento de onda
• Geometria de iluminação da amostra: Lado superior, reflexão
• Geometria dos feixes de incidência: Co-propagação, não colinear
• Ângulos de incidência: Fixos, VIS ~60°, IR ~55° (opcional: sintonizável)
• Comprimento de onda do feixe VIS: 532 nm (Clássico e Sensível à fase); 532 nm e sintonizável 420–680 nm (Dupla ressonância)
• Polarização (VIS, IR, SFG): Linear, selecionável “s” ou “p”, pureza > 1:100
• Ponto do feixe IR na amostra: Ajustável, ~200–600 µm (Clássico e Dupla ressonância); Fixo (Sensível à fase)
• Sensibilidade: Espectros de interface ar-água (Clássico e Dupla ressonância); Espectros de amostras sólidas (Sensível à fase)
• Modelo de fonte de luz laser: PT501-SH
• Duração do pulso: 29 ± 5 ps
• Taxa de repetição de pulsos: 100 Hz
• Fonte UV-VIS para SFG de dupla ressonância: PT401
• Características físicas (pegada): 1300 × 1200 mm (Clássico), 1800 × 1200 mm (Dupla ressonância), 1400 × 1200 mm (Sensível à fase)