Sistema de medição de temperatura IMS-K-SiPh
ópticopara waferspara semicondutor

sistema de medição de temperatura
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Características

Grandeza física
de temperatura
Tecnologia
óptico
Produto medido
para wafers, para semicondutor
Aplicações
para calibração

Descrição

Sistema Integrado de Medição Integrada (IMS) abrangente e chave-na-mão com aplicação de fotónica Keysight Suite Hardware e Software Os peritos em aplicações FormFactor e Keysight parceiros irão ajudá-lo a configurar uma solução robusta e completa, incluindo - Sistema de sonda FormFactor: CM300xi, SUMMIT200, MPS150 (outros disponíveis) - Opções de estação de sondas manuais, semi-automáticas e totalmente automáticas - Sondas analíticas FormFactor: Sondas de RF e DC em posicionadores manuais ou motorizados - FormFactor Integrado de Posicionamento Óptico HexNano de uma, duas ou três faces - Software de automatização fotónica FormFactor: SiPh-Tools e Interface de Controlador Fotónico para calibrações e controlo automatizados de posicionadores ópticos - Medições de temperatura e automatização de -40°C a +125°C - Lasers sintonizáveis, medidores de potência, e sintetizador de polarização: Keysight N7776C, N7778C, N7744C, N7745C, N7786C, N7788C (outros disponíveis) - Lasers modulares: Keysight 81606A, 81607A, 81608A e 81602A (outros disponíveis) - Analisador de parâmetros semicondutores Keysight ou SMUs PXIe para Óptica a Electricidade (O-E): B2901A, B1500A, M9601A PXI SMU (outros disponíveis) - Teste de visão de chaves e automatização de software: Photonics Application Suite (PAS), Automação de testes PathWave com plug-in formFactor Wafer prober - Para completar o sistema: cabos, adaptadores, ferragens de montagem, etc.

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