Sistema de medição de temperatura IMS-K-LFN

para wafers

Sistema Integrado de Medição Integrada (IMS) abrangente e chave na mão com Keysight A-LFNA para Medições Avançadas de Ruído de Baixa Frequência de P&D On-wafer Os peritos em aplicações FormFactor e Keysight parceiros irão ajudá-lo a configurar uma solução robusta e completa, incluindo - Sistema de sonda FormFactor: CM300xi-ULN, SUMMIT200 (outros disponíveis) - Opções de estação de sondas manuais, semi-automáticas e totalmente automáticas - Sondas analíticas FormFactor: Sondas DCP (outras disponíveis) em posicionadores manuais ou motorizados - Software de automatização FormFactor DC: Assistente autónomo de medição DC para sondagem sem vigilância sobre a temperatura em pequenas almofadas - Medições completas de temperatura excessiva e automatização de -60°C a +300°C - Keysight analisador avançado de ruído de baixa frequência (A-LFNA): E4727B - Software de automatização e modelação de chaves: PathWave WaferPro (WaferPro Express) - Para completar o sistema: cabos, adaptadores, ferragens de montagem, etc. O sistema avançado mais produtivo e exacto de medição de ruído de baixa frequência da indústria As medições de ruído em bolacha 1/f são um componente crítico de qualquer sistema de teste de caracterização e modelação. Devido à sensibilidade requerida, tais testes podem ser facilmente corrompidos por interferência exterior ou interior do sistema de teste.