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Espectrômetro de fluorescência X-RAY 5000
EDXRFde processo

espectrômetro de fluorescência
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Características

Tipo
de fluorescência, EDXRF
Âmbito de utilização
de processo

Descrição

O RAIO X 5000 de FISCHERSCOPE® é um sistema de medição da fluorescência do raio X (XRF) projetado para a análise e a medida in-line constantes de revestimentos finos. É manufacturado com uma tubulação do contador proporcional e um sensor da tração do silicone. A unidade pode para calibrar rapidamente e facilmente durante processos de produção e pode obter medidas mesmo em materiais quentes até de 500°C. Características • Cabeça de medição da flange para medidas contínuas em linhas de produção • Tubo contrário proporcional, diodo de PIN peltier-de refrigeração do silicone ou detetor da tração do silicone como o detetor do raio X • Calibração rápida e fácil em um mestre do workpiece diretamente no processo de produção • Para o uso no ar ou no vácuo • Permite medidas mesmo em materiais muito quentes da carcaça até 500° C (930° F) • O projeto é centrado sobre o vigor e o serviceability máximos Campos de aplicação típicos • Photovoltaics (CIGS, CIS, CdTe) • Análise de revestimentos finos na tira de metal, nas folhas de metal e em películas plásticas • Produção contínua • A monitoração de processo de sputter e linhas de produção de galvanização • medida da Grande-área

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Catálogos

* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.