Soquete de teste para TO (Transistor Outline) GD18-TO263-K-S1045X103de burn-inKelvin
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Características
- Especificações
- de burn-in, Kelvin, para TO (Transistor Outline)
Descrição
Tomada de teste do pacote TO
Para TO-263/D2-PAK
Tamanho18x32.9mm / 0.71x1.30"
Clamshell
- Teste de queima
- Contacto Kelvin (opção)
- Corrente nominal: 10A
- Temperatura de funcionamento :
[Dispositivo aceitável]
FDB28N30 (ON Semiconductor)
IRFS7437PbF (Infineon)
STB11NK50ZT4 (STMicroelectronics)
C3D06060G (CREE)
SK107114 (Sanken)
DMTH4004SCTB (Diodes Incorporated)
IXTA1R6N50D2 (IXYS)
** Incluindo o aumento da temperatura do terminal.
Também é possível suportar outros padrões de terminais.
Após a realização de uma simulação, decidiremos qual a dimensão a adotar e apresentaremos uma proposta
a adotar e apresentaremos uma proposta.
Os orifícios de passagem KG, DK e SK destinam-se ao contacto Kelvin. Se o contacto Kelvin não for necessário, estes orifícios não são necessários.
Capacidade para suportar outras dimensões de dispositivos. Por favor, contacte-nos para mais informações.
Embora o dispositivo esteja listado, pode não ser compatível devido à grande tolerância da dimensão do dispositivo.
Por conseguinte, é favor enviar antecipadamente a amostra do dispositivo e verificaremos a compatibilidade.
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