Câmara climática
de temperaturapara variação rápida de temperaturapara placas eletrônicas

Câmara climática - Sanwood Technology - de temperatura / para variação rápida de temperatura / para placas eletrônicas
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Características

Tipo
climática
Parâmetro controlado
de temperatura
Tipo de testes
para variação rápida de temperatura
Uso previsto
para placas eletrônicas, para semicondutor, para sensor
Área de aplicação
para controle da qualidade, para laboratório
Configuração
de piso, compacta
Material da câmara
em alumínio anodizado
Opções e acessórios
com regulação climática e de temperatura, controlada por touch screen, controlada por CLP, com tubos giratórios
Outras características
de ultrabaixa temperatura, para altas temperaturas, automática, de baixo consumo de energia, acelerada, efeito térmico
Temperatura

MÁX: 225 °C
(437 °F)

MÍN: -80 °C
(-112 °F)

Potência

MÁX: 223 W

MÍN: 220 W

Comprimento externo

MÁX: 1.930 mm
(76 in)

MÍN: 789 mm
(31,1 in)

Altura externa

MÁX: 2.163 mm
(85,16 in)

MÍN: 1.543 mm
(60,75 in)

Profundidade externa

911 mm
(35,87 in)

Descrição

Sistema de Controlo de Temperatura SANWOOD para Testes de Semicondutores e Componentes Eletrónicos Visão Geral do Produto O Sistema de Controlo de Temperatura SANWOOD SMS-810-10S fornece ar quente e frio localizado para a caracterização de semicondutores, avaliação de componentes e análise de falhas dependentes da temperatura. Os engenheiros podem investigar alterações de desempenho enquanto as amostras permanecem ligadas a instrumentos de medição elétricos ou óticos. Condicionamento térmico localizado Aplique um fluxo de ar com temperatura controlada a um componente ou área da placa selecionados para examinar margens operacionais, comparar medições e reproduzir falhas intermitentes. Controlo da temperatura do ar e feedback da amostra Selecione o Modo Ar ou o Modo DUT de acordo com a referência de temperatura necessária. Termopares externos do tipo T e do tipo K fornecem feedback a partir de uma localização definida na amostra. Posicionamento e integração em laboratório O ajuste vertical motorizado e o acionamento pneumático da cabeça térmica facilitam o posicionamento do suporte. As interfaces LAN e CAN permitem a monitorização a partir de um computador anfitrião. Arrefecimento sem criogénicos líquidos externos O funcionamento não requer qualquer fornecimento externo de azoto líquido ou dióxido de carbono líquido. Principais especificações técnicas Modelo: SMS-810-10S Intervalo de temperatura: −80 °C a +225 °C Transição típica da temperatura do ar, aquecimento: Aproximadamente 10 segundos de −55 °C a +125 °C Transição típica da temperatura do ar, arrefecimento: Aproximadamente 10 segundos de +125 °C a −55 °C Caudal de ar do sistema: 4–18 scfm, equivalente a 1,89–8,50 L/s Modos de controlo de temperatura: Modo de ar e Modo DUT Entradas de temperatura externas: Termopares do tipo T e do tipo K Posicionamento da cabeça térmica: Elevação vertical motorizada e acionamento pneumático Interfaces de comunicação: LAN e CAN para monitorização pelo PC anfitrião Fonte de alimentação: 220–230 VCA, 50/60 Hz Aplicações típicas de teste As aplicações incluem a caracterização de circuitos integrados digitais e analógicos, avaliação de RF e de sinal misto, ensaios de transceptores óticos, ensaios de semicondutores de potência, avaliação de sensores e análise de falhas ao nível dos componentes. Normas internacionais de ensaio relevantes Para projetos de qualificação, consulte o método de ensaio especificado ao selecionar o equipamento, o dispositivo de fixação e a configuração de monitorização da temperatura. JEDEC JESD22-A104 — Ciclos de temperatura Avaliação da fiabilidade dos semicondutores através da exposição repetida a condições específicas de temperatura elevada e baixa. MIL-STD-883-1, Método 1010 — Ciclos de temperatura Avaliação da resistência dos microcircuitos a temperaturas extremas e aos efeitos da exposição alternada. IEC 60068-2-1:2025 — Frio Ensaios a baixas temperaturas de componentes e equipamentos em condições especificadas de funcionamento, transporte ou armazenamento. IEC 60068-2-2:2025 — Calor seco Ensaios a alta temperatura de componentes e equipamentos, incluindo amostras energizadas e não energizadas. IEC 60068-2-14:2023 — Variação de temperatura Avaliação da resposta da amostra a variações especificadas da temperatura ambiente. Revisão do Método de Ensaio e da Configuração Estas referências orientam a revisão da aplicação; a adequação deve ser confirmada para a condição de ensaio selecionada e a disposição do equipamento. Avalie a cobertura da exposição, as tolerâncias de temperatura das amostras, os requisitos de transição, os períodos de permanência e o número de ciclos antes dos ensaios de qualificação. A especificação de aproximadamente 10 segundos descreve a transição da temperatura do ar fornecido. A estabilização real da amostra depende da massa térmica, da carga térmica de funcionamento, do fluxo de ar e das condições do dispositivo de fixação. Valide o perfil de temperatura medido da amostra sob carga representativa em relação aos requisitos de ensaio prescritos. Sobre a SANWOOD Fundada em 1995, a SANWOOD fabrica equipamento de ensaios ambientais e de fiabilidade para aplicações nos setores dos semicondutores, da eletrónica, automóvel e aeroespacial. As suas instalações de fabrico ultrapassam os 30 000 m², com produtos e serviços que abrangem mais de 100 países e regiões. O portfólio de produtos inclui sistemas de controlo de temperatura, câmaras HAST, câmaras HALT/HASS, câmaras de choque térmico e outros equipamentos de ensaio ambiental para o desenvolvimento de produtos e avaliação da fiabilidade. Solicitar uma Proposta Técnica Partilhe com a SANWOOD as dimensões da sua amostra, as temperaturas alvo, a carga térmica de funcionamento, a disposição dos suportes e os requisitos de comunicação. Inclua a norma de ensaio aplicável e as condições de ensaio, quando relevante. Uma fotografia da amostra ou um desenho dos suportes pode ajudar a esclarecer o posicionamento e o acesso para medição. Contacte a SANWOOD para obter apoio na seleção técnica e um orçamento baseado na aplicação.

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ELECTRONICA 2026
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10-13 nov 2026 Munich (Alemanha) Hall C2 - Stand 130

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