Testador de ciclagem térmica SM-TTS-D

de temperaturade sensorpara componentes eletrônicos

Sistema de ensaio de ciclos térmicos de bancada SANWOOD SM-TTS-D O SANWOOD SM-TTS-D permite realizar ciclos térmicos rápidos, ao nível dos componentes, diretamente na bancada do laboratório. O seu design de bancada permite aos engenheiros posicionar o sistema ao lado de suportes para amostras e de equipamento de medição elétrica. Duas cabeças de teste térmico direcionam ar com temperatura controlada para dois dispositivos, permitindo que ambas as amostras sejam testadas ao mesmo tempo. Especificações técnicas Modelo — SM-TTS-D Formato — de bancada Configuração de teste — Duas cabeças térmicas para o teste simultâneo de dois dispositivos Intervalo de controlo de temperatura — −80 °C a 225 °C Tempo típico de transição da temperatura do ar — Aproximadamente 10 segundos em cada direção entre −55 °C e 125 °C Caudal de ar do sistema — 4–18 scfm (1,89–8,50 L/s) Modos de controlo de temperatura — Modo de ar e Modo de Dispositivo em Teste (DUT) Aplicações Concebido para caracterização térmica, testes de fiabilidade e análise de falhas de circuitos integrados encapsulados, sensores, módulos óticos e componentes eletrónicos automóveis. Para obter uma proposta de configuração, indique as dimensões da sua amostra, a disposição do suporte e o perfil de temperatura pretendido. E-mail — [email protected]