Visão geralLente telecêntrica projetada para câmeras de altíssima resolução 25MP, destinada a inspeção industrial e metrologia. Proporciona imagem telecêntrica em ambos os lados (objeto e imagem) para minimizar erro de perspectiva, reduzir incertezas de medição e melhorar detecção de bordas e defeitos. Porta de iluminação coaxial disponível como opção. Montagem de câmera: F mount.
AplicaçõesInspeção por visão de máquina, inspeção de placas PCB e semicondutores, metrologia dimensional, inspeção óptica automatizada (AOI) e controle de qualidade.
Tabela técnicaModelo: SVL-2X-TC44-FS
Ampliação: 2X
Distância de trabalho: 110 mm
Profundidade focal: 0.16 mm
Distorção (abertura totalmente aberta): < 0.1%
Resolução LP/mm: 358 LP/mm
Poder resolutivo: 2.8 µm
N.A. (abertura totalmente aberta): 0.12
Número F (abertura totalmente aberta): 8.3
Montagem de câmera: F mount
Círculo de imagem: φ44 mm
Peso: Aproximadamente 1.5 kg
Especificações principais- Série: SVL-TC44 series
- Modelo: SVL-2X-TC44-FS
- Projetado para: sensores de câmera 25MP
- Ampliação: 2X
- Distância de trabalho: 110 mm
- Profundidade de campo: 0.16 mm
- Distorção (abertura total): < 0.1%
- Resolução: 358 LP/mm
- Poder resolutivo: 2.8 µm
- Abertura numérica (total): 0.12
- Número F (total): 8.3
- Montagem de câmera: F mount
- Círculo de imagem: φ44 mm
- Peso: aprox. 1.5 kg