Analisador de argônio DF-750 ULTRA

de nitrogêniode héliode oxigênio

O DF-750 ULTRA é a primeira escolha na análise de humidade para a indústria de semicondutores O DF-750 ULTRA é um analisador de traços/ultra-traços optimizado para fornecer as melhores medições de humidade da indústria nos gases de pureza ultra-alta (UHP) utilizados em fábricas de semicondutores de 300 mm. Medições de traço/ultra-traço TDL de alta estabilidade Uma solução sem compromissos Elevada fiabilidade Concebido especificamente para efetuar medições de humidade de traço e ultra-traço numa gama de gases UHP, o DF-750 ULTRA está optimizado para fábricas de semicondutores de 300 mm. Mede a humidade como contaminante nos gases de grau eletrónico nitrogénio, hidrogénio, hélio, árgon e oxigénio. A tecnologia de deteção de Laser de Diodo Sintonizável (TDL) fornece um Limite Inferior de Deteção (LDL) de 55 partes por trilhão (ppt), líder no setor, garantindo que as medições estáveis e altamente precisas do DF-750 ULTRA atendam às necessidades de monitoramento preciso da produção de semicondutores. O robusto DF-750 ULTRA tem baixos requisitos de manutenção ao longo da vida útil e proporciona uma estabilidade de desvio zero, aumentando consideravelmente os intervalos de calibração. Este baixo custo de propriedade combinado com um desempenho de medição excecional significa que o DF-750 ULTRA é a solução analítica de primeira escolha para verificações de qualidade de gás UHP. O DF-750 ULTRA foi concebido para cumprir as normas de pureza de gás excepcionais exigidas pelos fabricantes de semicondutores em todo o mundo. Utilizando a tecnologia de deteção TDL de ponta, alojada numa célula Herriot robusta e resistente, o DF-750 ULTRA evita o contacto da humidade com os componentes de deteção ótica. O resultado é um analisador que fornece uma medição ultrassensível,