Analisador de nitrogênio DF-750

de oxigêniode hidrogêniode monitoramento

A DF-750 é a principal escolha em análise de humidade para a indústria de semicondutores O DF-750 é um analisador de traços/ultragens de humidade optimizado para medições nos gases de ultra-alta pureza (UHP) utilizados nas fábricas de semicondutores de 300mm. Medições de humidade para controlo de qualidade em fabricação de semicondutores Concebida especificamente para fazer medições de traços e ultra-traços de humidade numa gama de gases UHP, a DF-750 é optimizada para fabricações de semicondutores de 300mm. Mede a humidade como contaminante nos gases de grau electrónico azoto, hidrogénio, hélio, árgon e oxigénio. A tecnologia de detecção por laser de díodos sintonizáveis (TDL) proporciona um limite de detecção inferior (LDL) de 100 partes por trilhão (ppt) líder da indústria, assegurando que as medições estáveis e altamente precisas do DF-750 satisfazem as necessidades precisas de monitorização da produção de semicondutores. A DF-750 robusta tem baixos requisitos de manutenção ao longo da vida útil e proporciona estabilidade a zero desvios, prolongando grandemente os intervalos de calibração. Este baixo custo de propriedade combinado com um desempenho de medição excepcional significa que o DF-750 é a solução analítica de primeira escolha para verificações de qualidade de gás UHP. Medições de traçado TDL/ultra-trace de alta estabilidade A qualificação ultra-traço dos gases electrónicos UHP é essencial para a fabricação de semicondutores. É necessário um analisador de humidade que podem proporcionar medições de alta estabilidade com um desempenho sensível e consistente. Um LDL preciso e baixo é uma obrigação, assim como a necessidade de armazenar e recuperar facilmente dados/calibração de registos. Independentemente dos seus requisitos, vai querer um analisador de humidade que possa fornecer eficiências operacionais. Não acreditamos que deva têm de se comprometer.